北京金時(shí)速儀器設(shè)備經(jīng)營(yíng)部
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閱讀:133發(fā)布時(shí)間:2017-12-6
光學(xué)膜層厚度測(cè)量控制儀CDNY-03AM
CDNY-03AM是專為光學(xué)鍍膜設(shè)計(jì)的新一代光學(xué)膜層厚度測(cè)量控制儀。本儀器由于采用窄帶頻率技術(shù),因而對(duì)信號(hào)諧波和直流漂移具有*的抑制能力。
主要性能指標(biāo)及技術(shù)指標(biāo)
主信號(hào)通道:
信號(hào)輸入方式:?jiǎn)味私涣鬏斎?br />輸入量程:0.5mV-500mV
信號(hào)頻率范圍:1KHz±5%
本機(jī)頻相噪聲:≤4nV/Hz(折合到輸入端)
性誤差: ≤0.1%
零點(diǎn)時(shí)源: ≤0.2%/h
參考信號(hào)通道:
信號(hào)輸入方式:?jiǎn)味私涣鬏斎?br />輸入幅度:20-700mV
頻率范圍:≥320。
商 鋪:北京金時(shí)速儀器設(shè)備經(jīng)營(yíng)部 http://www.liuyangwu.com/st65413/
主營(yíng)產(chǎn)品:氣體分析儀,水質(zhì)檢測(cè)儀器,自動(dòng)化儀器儀表,食品檢測(cè)儀器,自動(dòng)旋光儀
儀表網(wǎng) 設(shè)計(jì)制作,未經(jīng)允許翻錄必究 .? ? ?
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