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X熒光光譜測厚儀日立測厚儀丞普諾貨源充足原子熒光光譜

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更新時間：2026-06-06 12:26:42瀏覽次數(shù)：115次

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X熒光光譜測厚儀日立測厚儀丞普諾貨源充足詳細介紹應用領域鍍層厚度測試;鍍層含量測試；鍍層成分分析達克羅測試rohs鹵素環(huán)保檢測重金屬有害物質(zhì)檢測技術指標元素分析范圍從硫(S)到（U）

詳細介紹

X熒光光譜測厚儀日立測厚儀丞普諾貨源充足詳細介紹

應用領域

鍍層厚度測試;鍍層含量測試；鍍層成分分析達克羅測試

rohs鹵素環(huán)保檢測重金屬有害物質(zhì)檢測

技術指標
元素分析范圍從硫(S)到（U）。
一次可同時分析***多24個元素，五層鍍層
分析檢出限可達2ppm，***薄可測試0.005μm
分析含量一般為2ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序
多次測量重復性可達0.1%
長期工作穩(wěn)定性可達0.1%
度適應范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：50KG