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半導(dǎo)體可靠性高低溫環(huán)境性能測試

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半導(dǎo)體 / 芯片封裝是給裸芯片做物理保護(hù)、電氣互聯(lián)與散熱的工藝;測試是驗證功能與性能;可靠性測試是模擬端環(huán)境,驗證長期穩(wěn)定與壽命,三者是芯片從晶圓到成品的核心質(zhì)量保障環(huán)節(jié)。


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