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GB/T 10592-2023《高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》設(shè)備國(guó)標(biāo)驗(yàn)收規(guī)范
GB/T 5170.2-2008《環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度設(shè)備》9點(diǎn)溫場(chǎng)校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 2423.1/2-2008電工電子產(chǎn)品高低溫貯存試驗(yàn)規(guī)范
JEDEC JESD22-A104芯片溫度循環(huán)加速老化國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)
IEC 60068-2-14電子元器件溫變測(cè)試國(guó)際規(guī)范
ISO 16750-4車(chē)規(guī)電子高低溫可靠性專(zhuān)項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)
實(shí)驗(yàn)室CNAS設(shè)備內(nèi)部期間核查管理規(guī)范
類(lèi)別 | 參數(shù)詳情 | 實(shí)測(cè)備注 |
受試設(shè)備型號(hào) | 歐可OK-150標(biāo)準(zhǔn)高低溫試驗(yàn)箱 | 容積150L,溫域-70℃~180℃,標(biāo)稱(chēng)升降溫3℃/min |
校準(zhǔn)器具 | 9通道高精度鉑電阻溫度記錄儀 | 計(jì)量院校準(zhǔn),精度±0.01℃,數(shù)據(jù)精準(zhǔn)可溯源 |
測(cè)試負(fù)載 | 車(chē)規(guī)功率芯片模組,滿載80kg | 模擬實(shí)驗(yàn)室量產(chǎn)真實(shí)測(cè)試工況 |
溫場(chǎng)布點(diǎn)方式 | 國(guó)標(biāo)9點(diǎn)布點(diǎn)法 | 空載、滿載雙工況分開(kāi)檢測(cè)對(duì)比 |
對(duì)照設(shè)備 | 日系同容積進(jìn)口中端高低溫試驗(yàn)箱 | 橫向?qū)?biāo),驗(yàn)證設(shè)備綜合性能差距 |
模塊一:基礎(chǔ)溫控性能(偏差、均勻度、波動(dòng)度)檢測(cè)
模塊二:全溫段升降溫速率、溫度超調(diào)量實(shí)測(cè)
模塊三:芯片滿載工況溫場(chǎng)穩(wěn)定性驗(yàn)證
模塊四:72h不間斷交變耐久老化測(cè)試
模塊五:整機(jī)結(jié)構(gòu)、密封、安全防護(hù)、能耗檢測(cè)
模塊六:控制系統(tǒng)、數(shù)據(jù)溯源、售后運(yùn)維能力評(píng)估
檢測(cè)項(xiàng)目 | 國(guó)標(biāo)限值 | 歐可OK-150實(shí)測(cè)均值 | 單項(xiàng)判定 | 實(shí)驗(yàn)室適配價(jià)值 |
中心點(diǎn)溫度偏差 | ≤±2.0℃ | ±0.28℃ | 遠(yuǎn)優(yōu)于國(guó)標(biāo) | 杜絕芯片測(cè)試參數(shù)漂移誤判 |
高溫溫場(chǎng)均勻度 | ≤2.0℃ | 0.42℃ | 遠(yuǎn)優(yōu)于國(guó)標(biāo) | 多芯片同步測(cè)試條件一致 |
低溫溫場(chǎng)均勻度 | ≤3.0℃ | 0.61℃ | 遠(yuǎn)優(yōu)于國(guó)標(biāo) | 低溫老化測(cè)試數(shù)據(jù)離散性極小 |
溫度波動(dòng)度 | ≤±0.5℃ | ±0.22℃ | 優(yōu)于國(guó)標(biāo) | 恒溫階段曲線平穩(wěn)無(wú)震蕩 |
本次選取-40℃常規(guī)芯片低溫測(cè)試工況,9點(diǎn)布點(diǎn)穩(wěn)態(tài)30分鐘后實(shí)測(cè)最大溫差僅0.35℃,遠(yuǎn)低于國(guó)標(biāo)3℃限值。設(shè)備搭載自研全域循環(huán)風(fēng)道與AI動(dòng)態(tài)均衡溫控算法,底消除箱體氣流死角;304不銹鋼一體折彎內(nèi)膽無(wú)拼接縫隙,規(guī)避局部導(dǎo)熱不均、局部冷點(diǎn)熱點(diǎn)問(wèn)題;PID智能溫控算法響應(yīng)迅速,穩(wěn)態(tài)后機(jī)組啟停頻率低,溫控穩(wěn)定性強(qiáng),全適配精密半導(dǎo)體芯片檢測(cè)需求。
溫度區(qū)間 | 標(biāo)稱(chēng)速率 | 實(shí)測(cè)平均速率 | 速率偏差 | 最大超調(diào)量 | 判定結(jié)果 |
25℃→85℃高溫段 | 3℃/min | 2.91℃/min | -3% | +0.41℃ | 合格 |
25℃→-40℃中低溫段 | 3℃/min | 2.78℃/min | -7.3% | -0.53℃ | 合格 |
25℃→-70℃極限低溫段 | 3℃/min | 2.12℃/min | -29.3% | -0.86℃ | 速率不達(dá)標(biāo),超調(diào)合格 |
85℃→25℃降溫段 | 3℃/min | 2.95℃/min | -1.7% | -0.37℃ | 合格 |
常規(guī)芯片測(cè)試區(qū)間(-40℃~125℃)速率偏差控制在10%以?xún)?nèi),全滿足JEDEC溫度循環(huán)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn);
-70℃極限低溫下壓縮機(jī)負(fù)荷滿載,速率衰減明顯,超低溫專(zhuān)項(xiàng)測(cè)試需選用加強(qiáng)復(fù)疊機(jī)型;
全溫段超調(diào)量均低于0.9℃,無(wú)溫度驟變沖擊,可避免芯片非正常失效,保障測(cè)試數(shù)據(jù)真實(shí);
升降溫曲線線性度優(yōu)異,無(wú)斷崖式速率波動(dòng),曲線數(shù)據(jù)可直接歸檔用于CNAS檢測(cè)報(bào)告。
檢測(cè)指標(biāo) | 空載實(shí)測(cè)值 | 滿載實(shí)測(cè)值 | 變化幅度 | 風(fēng)險(xiǎn)評(píng)估 |
85℃高溫均勻度 | 0.42℃ | 0.75℃ | +0.33℃ | 遠(yuǎn)優(yōu)于國(guó)標(biāo),無(wú)測(cè)試風(fēng)險(xiǎn) |
溫度波動(dòng)度 | ±0.22℃ | ±0.29℃ | +0.07℃ | 穩(wěn)定性可控 |
-40℃降溫耗時(shí) | 32min | 39min | +7min | 小幅延長(zhǎng),不影響量產(chǎn)效率 |
常規(guī)國(guó)產(chǎn)試驗(yàn)箱滿載后溫場(chǎng)均勻度會(huì)大幅惡化,而歐可OK-150搭載多層循環(huán)補(bǔ)償風(fēng)道,可有效抵消芯片高密度吸熱負(fù)載的影響。滿載48h連續(xù)循環(huán)測(cè)試中,箱體無(wú)局部積熱、無(wú)冷熱不均問(wèn)題,上下層芯片測(cè)試溫差低于0.8℃,批量測(cè)試數(shù)據(jù)離散性極低。同時(shí)設(shè)備采用多重迷宮密封門(mén)體,頻繁開(kāi)關(guān)取放樣品時(shí)冷量流失慢,腔體溫度恢復(fù)時(shí)間≤3分鐘,大幅減少實(shí)驗(yàn)室等待工時(shí),適配高頻次送檢工況。
設(shè)定循環(huán)工況:-40℃保溫60min→3℃/min升溫至125℃保溫60min→3℃/min降溫至-40℃,滿載芯片負(fù)載連續(xù)不間斷運(yùn)行72h,全程每秒采集一組溫度數(shù)據(jù)。
檢測(cè)項(xiàng)目 | 耐久前初始值 | 耐久后復(fù)測(cè)值 | 衰減幅度 | 判定等級(jí) |
-40℃均勻度 | 0.61℃ | 0.68℃ | +0.07℃ | 優(yōu)秀 |
溫度波動(dòng)度 | ±0.22℃ | ±0.25℃ | +0.03℃ | 優(yōu)秀 |
-40℃降溫時(shí)長(zhǎng) | 39min | 41min | +2min | 輕微衰減,故障 |
運(yùn)行噪音 | 56dB | 58dB | +2dB | 符合國(guó)標(biāo)要求 |
72h全程無(wú)停機(jī)、無(wú)報(bào)錯(cuò)、無(wú)超溫報(bào)警,壓縮機(jī)啟停邏輯穩(wěn)定,無(wú)過(guò)熱保護(hù)現(xiàn)象。箱體保溫層無(wú)結(jié)霜滲透,門(mén)封條低溫工況下無(wú)硬化漏冷問(wèn)題;觸摸屏控制器連續(xù)運(yùn)行無(wú)卡頓、無(wú)程序丟失。對(duì)比同工況下國(guó)產(chǎn)低價(jià)設(shè)備42h即出現(xiàn)制冷故障停機(jī)的情況,歐可設(shè)備長(zhǎng)期連續(xù)運(yùn)行的可靠性?xún)?yōu)勢(shì)十分顯著。
雙重超溫?cái)嗦繁Wo(hù),超設(shè)定溫度5℃自動(dòng)切斷加熱,杜絕芯片高溫?zé)龤?/p>
壓縮機(jī)過(guò)載、高低壓壓力、漏電接地三重電氣防護(hù)
缺水、風(fēng)機(jī)故障、門(mén)體未閉合聯(lián)動(dòng)報(bào)警停機(jī)功能
故障代碼可視化存儲(chǔ),報(bào)警日志久留存,滿足數(shù)據(jù)溯源要求
對(duì)比項(xiàng)目 | 歐可OK-150 | 進(jìn)口中端機(jī)型 | 國(guó)產(chǎn)低價(jià)競(jìng)品 |
內(nèi)膽材質(zhì) | 304一體折彎不銹鋼 | 304不銹鋼 | 201拼接不銹鋼 |
門(mén)體密封結(jié)構(gòu) | 雙層硅橡膠迷宮密封 | 單層密封 | 普通橡膠密封,易硬化漏冷 |
72h滿載耗電量 | 112.6度 | 147.3度 | 98.2度(溫控不穩(wěn)定) |
保溫層厚度 | 100mm高密度聚氨酯 | 110mm聚氨酯 | 60mm薄保溫層,冷損耗大 |
-65℃以下極限低溫工況降溫速率衰減嚴(yán)重,不適合高頻次超低溫測(cè)試
原廠上位機(jī)僅支持CSV格式導(dǎo)出,無(wú)法直接對(duì)接實(shí)驗(yàn)室LIMS系統(tǒng)
設(shè)備風(fēng)機(jī)檢修口尺寸偏小,自主更換耗材操作不便
三四線城市售后網(wǎng)點(diǎn)響應(yīng)周期約48h,不及進(jìn)口品牌駐場(chǎng)售后高效
支持1000組獨(dú)立測(cè)試程序,單程序最高100段溫變曲線,可存儲(chǔ)各類(lèi)芯片專(zhuān)用測(cè)試方案
三級(jí)權(quán)限密碼管控,杜絕程序篡改,符合CNAS數(shù)據(jù)合規(guī)要求
每秒自動(dòng)記錄溫度、報(bào)警、運(yùn)行日志,本地存儲(chǔ)1年以上數(shù)據(jù),可溯源歸檔
10寸防霜觀察窗+內(nèi)置LED照明,無(wú)需開(kāi)門(mén)即可觀測(cè)芯片試驗(yàn)狀態(tài)
設(shè)備到貨后廠家提供免費(fèi)上門(mén)安裝、校準(zhǔn)指導(dǎo)服務(wù),配套完整的9點(diǎn)溫場(chǎng)校準(zhǔn)模板;整機(jī)質(zhì)保2年,進(jìn)口核心壓縮機(jī)質(zhì)保3年,密封件、傳感器等耗材終身成本價(jià)供應(yīng)。支持遠(yuǎn)程在線程序調(diào)試、故障排查,大幅降低設(shè)備停機(jī)時(shí)長(zhǎng);同時(shí)可根據(jù)實(shí)驗(yàn)室需求定制特殊機(jī)型,適配后期業(yè)務(wù)擴(kuò)容。
Q1:常規(guī)芯片-40℃~125℃溫度循環(huán)測(cè)試,該設(shè)備是否夠用?
答:全夠用。常規(guī)測(cè)試區(qū)間溫控精度、均勻度、升降溫速率均優(yōu)于國(guó)標(biāo)及JEDEC行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),滿載長(zhǎng)期運(yùn)行穩(wěn)定,數(shù)據(jù)可信度滿足CNAS報(bào)告出具要求,僅超低溫極限工況需升級(jí)加強(qiáng)機(jī)型。
Q2:對(duì)比日系進(jìn)口設(shè)備,性?xún)r(jià)比差距如何?
答:核心溫控性能差距極小,耐久穩(wěn)定性接近進(jìn)口設(shè)備。進(jìn)口設(shè)備優(yōu)勢(shì)為超低溫速率和本地駐場(chǎng)售后,而歐可設(shè)備采購(gòu)價(jià)僅為進(jìn)口機(jī)型60%,定制周期更短、維保成本更低,更適合中小芯片實(shí)驗(yàn)室批量采購(gòu)。
Q3:設(shè)備數(shù)據(jù)是否滿足CNAS資質(zhì)審核溯源要求?
答:全滿足。設(shè)備全程自動(dòng)留存運(yùn)行數(shù)據(jù)與報(bào)警日志,三級(jí)權(quán)限管控杜絕人為修改,僅需簡(jiǎn)單格式轉(zhuǎn)換即可對(duì)接LIMS系統(tǒng),可順利通過(guò)實(shí)驗(yàn)室資質(zhì)審核。
Q4:24h不間斷量產(chǎn)測(cè)試,設(shè)備故障率高嗎?
答:故障率極低。90天實(shí)測(cè)72h連續(xù)耐久故障,批量設(shè)備運(yùn)行半年僅更換常規(guī)耗材,防護(hù)機(jī)制善,對(duì)比低價(jià)國(guó)產(chǎn)設(shè)備故障率降低70%以上,適配全天候量產(chǎn)檢測(cè)。
Q5:設(shè)備期間核查、校準(zhǔn)是否有配套支持?
答:廠家提供全套校準(zhǔn)操作手冊(cè),配合第三方計(jì)量機(jī)構(gòu)現(xiàn)場(chǎng)校準(zhǔn),每年免費(fèi)提供遠(yuǎn)程期間核查指導(dǎo),配套合規(guī)記錄模板,全符合CNAS設(shè)備管理規(guī)范。
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