主要用途廣泛，是半導(dǎo)體、汽車(chē)電子、航空航天及消費(fèi)電子等領(lǐng)域的測(cè)試工具。它主要用于快速暴露電子元器件（如IC芯片、PCB、連接器）和材料在惡劣環(huán)境下的潛在缺陷，如封裝密封性失效、引腳腐蝕、材料老化等，從而為產(chǎn)品可靠性提升和壽命評(píng)估提供有力支撐

非飽和高壓加速試驗(yàn)箱（HAST）是進(jìn)行高加速應(yīng)力測(cè)試的關(guān)鍵設(shè)備，通過(guò)模擬高溫、高壓及非飽和濕度環(huán)境，快速評(píng)估產(chǎn)品的可靠性。是半導(dǎo)體、汽車(chē)電子、航空航天及消費(fèi)電子等領(lǐng)域的測(cè)試工具，主要用于快速暴露電子元器件（如IC芯片、PCB、連接器）和材料在惡劣環(huán)境下的潛在缺陷，如封裝密封性失效、引腳腐蝕、材料老化等，從而為產(chǎn)品可靠性提升和壽命評(píng)估提供有力支撐，它能將傳統(tǒng)方法長(zhǎng)達(dá)數(shù)千小時(shí)的濕熱老化測(cè)試周期縮短至數(shù)百小時(shí)，顯著提升研發(fā)與質(zhì)檢效率

詳細(xì)技術(shù)規(guī)格

支持的可靠測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

我們的設(shè)備設(shè)計(jì)與制造嚴(yán)格遵循國(guó)際及國(guó)內(nèi)主流可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，確保您的測(cè)試數(shù)據(jù)在地球范圍內(nèi)獲得認(rèn)可：

IEC：IEC 60068-2-66 (試驗(yàn)Cx), IEC 60749

JEDEC：JESD22-A110 (HAST), JESD22-A118 (無(wú)偏壓HAST/UHAST), JESD22-A102 (PCT)

國(guó)標(biāo)：GB/T 2423.40

汽車(chē)電子：AEC-Q100/Q101

行業(yè)評(píng)價(jià)方法：支持如《復(fù)雜組件封裝關(guān)鍵結(jié)構(gòu)壽命評(píng)價(jià)方法》（T/CIE 143-2022）等標(biāo)準(zhǔn)中提及的加速壽命試驗(yàn)要求。