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安捷倫 4287A射頻LCR測(cè)試儀在1 MHz～3 GHz頻率范圍可以提供精確、可靠和快速測(cè)量，以改進(jìn)生產(chǎn)線(xiàn)上對(duì)電子元件進(jìn)行測(cè)試的質(zhì)量和生產(chǎn)率。與反射測(cè)量技術(shù)不...
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