幾種可測試性電子吊鉤秤傳感器設(shè)計技術(shù)原理

1．Ad-hoc測試技術(shù)

特定目標(biāo)可測試性設(shè)計技術(shù)（Ad-hoc）是一種早期的DFT技術(shù)，它是針對一個已經(jīng)成型的電子吊鉤秤傳感器設(shè)計中的測試問題。這種技術(shù)的主要基本思想是：通過添加選擇器來訪問內(nèi)部電路，以增強其可控性和可觀測性；添加邏輯門電路來控制內(nèi)總電路以增加其可控性；在需要的地主增加觀測點。

2．掃描技術(shù)

電子吊鉤秤傳感器中一般都包括了時序邏輯和組合邏輯兩部分。組合邏輯使現(xiàn)有測試技術(shù)能較好地測試生成；而時序邏輯電路的測試生成，由于時序電路往往很復(fù)雜，因此很難獲得足夠令人滿意的測試程序。掃描結(jié)合測試向量自動生成技術(shù)，通過將電路中難以測試的時序元件轉(zhuǎn)化為可串行輸入和輸出的可掃面單元，從而從可測試性的角度來看增加了許多可控制點和觀測點，極大地提高了整個電子吊鉤秤傳感器的可觀測性。

3．內(nèi)建自測技術(shù)（BIST）

內(nèi)建自測設(shè)計技術(shù)的基本思想是不需要外產(chǎn)來施加測試向量，由電路自己生成測試向量，依靠自身來決定獲得的測試結(jié)果是否正確。這種方法通過電子吊鉤秤傳感器內(nèi)部集成少量的邏輯電路來實現(xiàn)對集成電路的測試。隨著集成度的提高，集成電路工程不再在乎BIST邏輯所占用的電路或芯片面積，因而內(nèi)建自測設(shè)計技術(shù)廣泛地應(yīng)用于現(xiàn)代集成電路中。這種測試方法還被認為是解決測試儀器開發(fā)周期長、費用高的有效方法之一。

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