脈沖式線圈測(cè)試儀使用技巧

概述：

2883脈沖式線圈測(cè)試儀以MCU中央信息處理系統(tǒng)為核心，由它控制脈沖發(fā)生器對(duì)線圈施加一次極短時(shí)間的脈沖，線圈在脈沖作用下產(chǎn)生自由衰減震蕩，其瞬態(tài)波形的模擬信號(hào)經(jīng)由CPLD可編程邏輯器件控制的高速A/D轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)，然后反饋至MCU中央信息處理系統(tǒng)進(jìn)行時(shí)間、電暈量、面積、相位等參數(shù)的運(yùn)算，處理結(jié)果保存在MCU信息處理系統(tǒng)的電子存儲(chǔ)器中，并用直觀易懂的文字、數(shù)據(jù)及圖形顯示在240×320點(diǎn)陣液晶模塊LCM上，從而保證了波形重現(xiàn)的真實(shí)性。并且根據(jù)用戶設(shè)定的條件，對(duì)合格或不合格者進(jìn)行報(bào)警處理。

主要技術(shù)指標(biāo)