雷達物位計通過天線發(fā)射極窄的微波脈沖，這個脈沖以光速在空間傳播，碰到被測介質(zhì)表面，其部分能量被反射回來，被同一天線接收。發(fā)射脈沖與接收脈沖的時間間隔與天線到被測介質(zhì)表面的距離成正比。從而進一步計算出天線到被測介質(zhì)表面的距離。

　　雷達物位計的回波質(zhì)量主要受以下因素影響:1.傳播介質(zhì)的介電常數(shù)，該常數(shù)越穩(wěn)定越有利于傳播。雷達波是電磁波，電磁波在傳播過程中不受傳播介質(zhì)穩(wěn)定程度的影響，只與其介電常數(shù)有關(guān)。這是雷達技術(shù)與超聲波技術(shù)的重大區(qū)別。2.被測介質(zhì)表面狀況，表面越平整，其介電常數(shù)越大，則越有利于回波反射。所以考慮現(xiàn)場情況時，應(yīng)特別注意這兩個方面：1.天線到被測介質(zhì)間空氣介電常數(shù)的分布。2.被測介質(zhì)的表面狀態(tài)及其介電常數(shù)。

　　雷達物位計技術(shù)參數(shù)：天線規(guī)格應(yīng)用：簡易處理條件下的侵蝕性液體；測量范圍：大于35m；過程配件：或法蘭；過程溫度：-40…150℃；過程壓強：-1…16bar（-100…1600kPa）；精度：+/-1mm；發(fā)射頻率：6.3GHz；應(yīng)用：嚴峻過程條件下的儲存和加工容器；測量范圍：大于35m；過程配件：法蘭；過程溫度：-40…400℃；過程壓強：-1…160bar（-100…1600kPa）；精度：+/-1mm；發(fā)射頻率：6.3GHz。



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