覆層測(cè)厚儀是一種無損檢測(cè)的測(cè)厚儀，有磁力原理、磁感應(yīng)原理、電渦流原理三種測(cè)厚儀，也是應(yīng)用泛地三種。覆層包括貼層、鍍層、涂層、化學(xué)成膜等，用于保護(hù)材料的不受損壞。雖然測(cè)厚的測(cè)厚原理不同，但是測(cè)厚儀的測(cè)量精度卻都是大同小異，主要有基體厚度、邊界距離、曲率半徑、表面粗糙度、表面清潔度、探頭壓力、探頭方向、覆層材料中的鐵磁成分和導(dǎo)電成分及磁場(chǎng)等。分析一下幾種影響因素：
1）探頭方向：探頭的放置方式會(huì)影響測(cè)量結(jié)果，所以測(cè)量時(shí)探頭與被測(cè)樣品表面要保持垂直。
2）探頭壓力：探頭放在試件上施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)。所以在測(cè)量過程中要保持施加的力不變或盡量最小化。需要時(shí)可以在探頭及被測(cè)物體之間增加具有一定厚度的絕緣硬性薄膜，然后測(cè)量結(jié)果減掉薄膜的厚度即可得到覆層厚度。
3）表面清潔度：被測(cè)試件表面要保持干凈，表面的雜質(zhì)、油污等都會(huì)影響測(cè)試結(jié)果。
4）基體厚度：一般情況，色差儀都會(huì)有基體金屬臨界厚度。即覆層測(cè)厚儀在測(cè)量時(shí)，對(duì)被測(cè)樣品的薄厚會(huì)有基本的要求，給出一個(gè)基體的既定最小厚度值（與被測(cè)樣品的性質(zhì)有關(guān)），能夠全部將探頭的磁場(chǎng)包裹在被測(cè)樣品的金屬中。如果基體厚度大于最小厚度值則不受基體金屬厚度的影響，不用修改結(jié)果；如果達(dá)不到最小厚度值，則測(cè)量結(jié)果會(huì)有一定的偏差，需要使用同材質(zhì)的物體緊貼在被測(cè)樣品上再進(jìn)行測(cè)量。
5）邊界距離：當(dāng)探頭與被測(cè)樣品邊界、孔眼、空腔、其他截面變化出的距離小于規(guī)定的邊界距離時(shí)，由于渦流載體截面不夠?qū)a(chǎn)生測(cè)量誤差。所以，在靠近被測(cè)樣品邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。如果必須測(cè)量該點(diǎn)的覆層厚度時(shí)，需預(yù)先在相同條件的無覆層表面進(jìn)行校準(zhǔn)。
6）表面粗糙度：粗糙的表面會(huì)導(dǎo)致系統(tǒng)誤差，對(duì)于粗糙的表面應(yīng)進(jìn)行多點(diǎn)多次測(cè)量，然后取平均值以獲得較客觀的數(shù)據(jù)?；w金屬和覆蓋層的粗糙度越大，對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響也越大，因此要使基體的平均粗糙度Ra應(yīng)小于覆層厚度的5%。
7）曲率半徑：被測(cè)樣品的曲率半徑是會(huì)影響測(cè)量結(jié)果的。曲率半徑越小，誤差越大，所以在彎曲表面測(cè)量厚度是不準(zhǔn)確的。
8）磁場(chǎng)：對(duì)于磁性測(cè)厚方法的測(cè)厚儀，周圍環(huán)境設(shè)備產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)會(huì)干擾測(cè)厚儀的測(cè)量。所以應(yīng)避免在有外界磁場(chǎng)的環(huán)境下使用磁性法測(cè)厚儀。除了結(jié)構(gòu)鋼和深沖成形鋼板一般不會(huì)出現(xiàn)這種情況。
9）覆層材料中的鐵磁成分和導(dǎo)電成分：磁性法測(cè)厚儀會(huì)受基體金屬磁性變化的影響。為了避免受到熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)測(cè)厚儀經(jīng)行校準(zhǔn)，也可以用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。
以上就是覆層測(cè)厚儀測(cè)量精度的九個(gè)影響因素，當(dāng)然還有其他的一些小的影響因素，這里就不一一列舉了，這九個(gè)因素是比較常見的問題。
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