試塊根據(jù)檢定部門和使用環(huán)境可分為標(biāo)準(zhǔn)試塊、對(duì)比試塊和試塊三類。
1、標(biāo)準(zhǔn)試塊
標(biāo)準(zhǔn)試塊—指材質(zhì)、形狀、尺寸及性能均經(jīng)主管機(jī)關(guān)或機(jī)構(gòu)檢定的試塊、用于對(duì)超聲檢測(cè)裝置或系統(tǒng)的性能測(cè)試及靈敏度的調(diào)整。
(A)、CSK-IA試塊
該試塊是國(guó)家TB1152－81規(guī)定的試塊，它與標(biāo)準(zhǔn)試塊ⅡW相比有以下三處不同：
一是將R100圓曲面改為R50、R100階梯圓曲面，可同時(shí)獲得二個(gè)反射回波，校正橫波掃描速度；
二是將50孔改為40、44、50臺(tái)階孔，有利于測(cè)定斜探頭的分辨率；
三是將折射角改為K值。
其用途有以下幾條：
⑴利用厚度25 mm和高度100 mm，測(cè)定探傷儀的水平、垂直線性、動(dòng)態(tài)范圍和調(diào)整縱波探測(cè)范圍、校正時(shí)基線。
⑵利用R50和R100調(diào)整橫波探測(cè)范圍、零位校正和測(cè)定斜探頭的入射點(diǎn)（前沿長(zhǎng)度）。
⑶利用高度85、91、100 mm測(cè)定直探頭分辨力；利用40、44、50曲面測(cè)定斜探頭分辨力。
⑷利用50曲面和1.5橫孔測(cè)定斜探頭K值。
⑸利用50有機(jī)玻璃塊測(cè)定直探頭盲區(qū)和穿透力。
⑹利用試塊直角棱邊測(cè)定斜探頭 的聲軸偏斜角。
(B)、SH－1型半圓試塊
該試塊大優(yōu)點(diǎn)是體積小攜帶方便。
可調(diào)整探測(cè)范圍，測(cè)定儀器的水平線性、垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍，測(cè)定斜探頭的入射點(diǎn)、折射角及調(diào)整探傷靈敏度。
(C)、CS－1－5試塊
CS－1試塊屬成套試塊，主要用于繪制振幅－當(dāng)量曲線和當(dāng)量法確定被檢工件內(nèi)的缺陷大?。?/p>
測(cè)定直探頭聲束偏移量；測(cè)量探傷儀衰減器精度。
CS－1－5試塊是CS－1系列中的一塊，其平底孔徑為φ2 mm，常用于測(cè)試直探頭和儀器組合的靈敏度余量。
2、對(duì)比試塊
對(duì)比試塊是指調(diào)整超聲檢測(cè)系統(tǒng)靈敏度或比較缺陷大小的試塊。
屬非標(biāo)準(zhǔn)試塊，一般采用和被檢材料特性相似的材料制成。
鐵道部推薦的WGT-1、WGT-2、WGT-3 、GTS-60 以及長(zhǎng)期延用的三角試塊都屬鋼軌探傷中的對(duì)比試塊。
（A)、AWGT-1試塊
該試塊的一端是半徑R=40mm的圓曲面，用于測(cè)定斜探頭的入射點(diǎn)和前沿長(zhǎng)度；
另一端是R=15mm 的模擬鋼軌螺孔并有深3mm，與水平面(B面)36°角的螺孔裂紋；
在試塊上另有一個(gè)Ф3的橫通孔，這些人工反射體均作為斜探頭靈敏度校驗(yàn)之用。
(B)、WGT-2試塊
該試塊主要用于測(cè)量探傷儀和70º探頭的距離幅度特性，它包括探傷儀的距離補(bǔ)償和探頭的距離幅度特性。
當(dāng)從A面和B 面用一次波或二次波探測(cè)時(shí)，可獲得探測(cè)深度為：5、10、15、25、35、30、45、50、55、65、70和75共計(jì)12個(gè)探測(cè)點(diǎn)。
會(huì)員1.png)
