該 AQ6377E 設(shè)計用于在寬廣的 1900–5500 納米波段內(nèi)，進(jìn)行準(zhǔn)確高效的中波紅外（MWIR）測量。在 AQ6377 經(jīng)過驗證的性能基礎(chǔ)上，AQ6377E 提升了速度、靈敏度和功能性，以滿足環(huán)境感測、氣體分析和光子學(xué)研究等先進(jìn)激光應(yīng)用不斷演變的需求。

Key Features  主要特征

• Wavelength range: 1900 to 5500 nm 
  波長范圍：1900至5500納米

• 5 wavelength resolution settings: 0.2 to 5 nm
  5個波長分辨率設(shè)置：0.2到5納米
  Enables the user to choose the best value according to the device/system under test.
  允許用戶根據(jù)被測設(shè)備/系統(tǒng)選擇佳值。

• Wide measurement dynamic rang: 73 dB
  寬度測量動態(tài)響鈴：73 dB
  Suitable to measure high power as well as low power sources used in different fields of application. Sensitivity: HIGH1-3 are only high dynamic mode.
  適用于測量高功率和低功率源，適用于不同應(yīng)用領(lǐng)域。靈敏度：HIGH1-3 僅為高動態(tài)模式。

• Wavelength accuracy: ±0.5 nm
  波長精度：±0.5 nm
  Easily maintained due to the built-in Calibration Function and wavelength reference source.
  由于內(nèi)置校準(zhǔn)功能和波長參考源，維護(hù)簡便。

• Close-in dynamic range: 50 dB
  近距離動態(tài)范圍：50 dB