碳化硅功率器件測試用高低溫一體機(jī)（適配碳化硅 MOSFET、IGBT、二極管等功率器件，覆蓋低溫特性測試、高溫功率循環(huán)、冷熱沖擊、長期可靠性測試，控溫范圍 - 60℃-250℃，控溫精度 ±0.1℃，溫變速率 0.5-15℃/min 可調(diào)，測試艙容積 50-500L，支持 1-8 通道器件同步測試，符合 JEDEC JESD22-A104、A108 測試標(biāo)準(zhǔn)）是碳化硅功率器件。

詳細(xì)介紹

一、產(chǎn)品簡介

碳化硅功率器件測試用高低溫一體機(jī)（適配碳化硅 MOSFET、IGBT、二極管等功率器件，覆蓋低溫特性測試、高溫功率循環(huán)、冷熱沖擊、長期可靠性測試，控溫范圍 - 60℃-250℃，控溫精度 ±0.1℃，溫變速率 0.5-15℃/min 可調(diào)，測試艙容積 50-500L，支持 1-8 通道器件同步測試，符合 JEDEC JESD22-A104、A108 測試標(biāo)準(zhǔn)）是碳化硅功率器件 “性能驗(yàn)證 + 可靠性評估 + 惡劣工況適配" 的核心測試設(shè)備。其核心價(jià)值在于解決三大行業(yè)痛點(diǎn)：

寬溫域精準(zhǔn)控溫：碳化硅器件需模擬 - 55℃（工業(yè)低溫環(huán)境）與 175℃（高溫運(yùn)行工況），傳統(tǒng)設(shè)備溫場均勻性差（艙內(nèi)溫差超 ±2℃），導(dǎo)致器件閾值電壓測試偏差超 5%，本設(shè)備通過多維度氣流設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)艙內(nèi)任意點(diǎn)溫差≤±1℃，器件表面溫差≤±0.5℃，測試數(shù)據(jù)重復(fù)性≥99.5%；

快速溫變與循環(huán)：JEDEC 標(biāo)準(zhǔn)要求功率循環(huán)測試需完成 1000 次冷熱循環(huán)（單次循環(huán) 10min，累計(jì) 10000min），傳統(tǒng)設(shè)備單循環(huán)耗時(shí) 15min，本設(shè)備溫變速率達(dá) 15℃/min（從 - 55℃至 175℃僅需 15min），循環(huán)效率提升 33%，縮短測試周期；

低電磁干擾：碳化硅器件測試需高精度電參數(shù)測量（如漏電流、導(dǎo)通電阻），傳統(tǒng)設(shè)備電磁輻射超 50dBμV/m，干擾測試儀器（誤差超 10%），本設(shè)備采用全金屬屏蔽艙體 + EMC 濾波設(shè)計(jì)，電磁輻射≤30dBμV/m，滿足 Class A 電磁兼容要求。

設(shè)備連續(xù)運(yùn)行壽命≥18000h，直接決定碳化硅器件測試通過率（溫場不均使測試失敗率從 8% 升至 22%）、研發(fā)周期（測試效率低使研發(fā)周期延長 40%）與產(chǎn)品可靠性（測試數(shù)據(jù)失真導(dǎo)致戶外壽命評估偏差超 25%），廣泛服務(wù)于英飛凌、意法半導(dǎo)體、比亞迪半導(dǎo)體、斯達(dá)半導(dǎo)等企業(yè)及第三方檢測機(jī)構(gòu)。

二、應(yīng)用場景

1.英飛凌碳化硅 MOSFET 研發(fā)測試

適配英飛凌 1200V/200A 碳化硅 MOSFET 研發(fā)實(shí)驗(yàn)室，高低溫一體機(jī)通過 JEDEC A104 標(biāo)準(zhǔn) - 55℃-175℃冷熱沖擊測試（1000 次循環(huán)），器件表面溫差≤±0.5℃，測試后導(dǎo)通電阻變化率僅 8%，漏電流 3μA，研發(fā)周期從 18 個(gè)月縮短至 12 個(gè)月，新品上市時(shí)間提前 6 個(gè)月，年新增銷售額超 3 億元。

2.斯達(dá)半導(dǎo)碳化硅二極管檢測

服務(wù)斯達(dá)半導(dǎo) 650V/100A 碳化硅二極管生產(chǎn)線，設(shè)備以 - 60℃-25℃梯度低溫測試，每 10℃停留 20 分鐘測量電參數(shù)，測試誤差≤2%，二極管反向擊穿電壓一致性提升 15%，合格率從 95% 提升至 99.8%，年減少不良品損失 200 萬元。

3.比亞迪半導(dǎo)體 IGBT 模塊可靠性驗(yàn)證

針對比亞迪半導(dǎo)體 1700V/300A 碳化硅 IGBT 模塊，高低溫一體機(jī)以 150℃恒溫功率循環(huán)測試（10000 次通斷），測試后模塊結(jié)溫變化≤5℃，綁定線脫落率 0.05%，滿足新能源汽車 “15 年 / 30 萬公里" 壽命要求，模塊車規(guī)認(rèn)證通過率提升 25%。

-60至250℃高低溫一體機(jī)MPTD技術(shù)規(guī)格書_00.png