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IC卡動(dòng)態(tài)彎曲雙向扭試驗(yàn)機(jī)儀器介紹：
IC卡動(dòng)態(tài)彎扭測(cè)試儀用于檢測(cè)磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。
本產(chǎn)品適用于軌道交通卡、銀行磁卡、醫(yī)療保險(xiǎn)卡、智能卡、地鐵卡、通訊卡、公交卡、會(huì)員卡等系列磁卡的反復(fù)彎曲扭轉(zhuǎn)試驗(yàn)，主要用于大專院校、科研單位、質(zhì)量檢測(cè)中心、企業(yè)單位品質(zhì)檢測(cè)部門、實(shí)驗(yàn)室等磁卡的物理力學(xué)性能、工藝性能的測(cè)試和分板研究，深受廣大用戶青睞。
IC卡動(dòng)態(tài)彎曲雙向扭試驗(yàn)機(jī)滿足標(biāo)準(zhǔn)：
該IC卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)主要用于測(cè)試IC卡的彎曲、扭矩試驗(yàn)，符合國標(biāo)GB/T 16649.1《識(shí)別卡 帶觸點(diǎn)的集成電路卡 第1部分：物理特性》，國標(biāo)GB/T-17554.1-2006《識(shí)別卡 測(cè)試方法 第1部分：一般特性測(cè)試》及ISO10373和ISO7816-1998等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。
本儀器針對(duì)性IC卡在國標(biāo)GB/T 16649.1，國標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998國際標(biāo)準(zhǔn)等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)中的彎曲、扭矩的試驗(yàn); 符合以上標(biāo)準(zhǔn)。
IC卡動(dòng)態(tài)彎曲雙向扭試驗(yàn)機(jī)技術(shù)參數(shù)：
外形尺寸：L670 X W380 X H220
儀器重量：70kg
電 壓：AC220V±5%
功 率：35W
測(cè)試速度：彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz
測(cè)試周期：1~9999次
扭曲度 ：±15°±1° 雙向d=86 mm
正反向各15°，總扭曲角度30°
長(zhǎng)邊大位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)
長(zhǎng)邊小位移量為2mm±0.50mm，
短邊大位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)
長(zhǎng)邊小位移量為1mm±0.50mm，
夾具安裝尺寸按照國家標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。
長(zhǎng)邊彎曲工位數(shù)：5工位
短邊彎曲工位數(shù)：5工位
雙向扭轉(zhuǎn)工位數(shù)：5工位
儀器加罩前的尺寸是：
長(zhǎng)：74.5cm，寬：38cm 高：30cm
自主設(shè)計(jì)按標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行雙向扭轉(zhuǎn)測(cè)試。
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