天津TP200測(cè)頭

具有模塊交換功能的超小型測(cè)頭，它使用應(yīng)變片機(jī)構(gòu)，比機(jī)械結(jié)構(gòu)式觸發(fā)測(cè)頭的壽命更長(zhǎng)、精度更高

TP200測(cè)頭系統(tǒng)組件包括：

TP200或TP200B測(cè)頭本體（TP200B為另一款，允許更大振動(dòng)公差）
TP200測(cè)針模塊 — 選擇固定過(guò)行程測(cè)力：SF（標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力）或LF（低測(cè)力）
PI 200-3測(cè)頭接口
SCR200測(cè)針交換架

還有一種EO模塊（長(zhǎng)過(guò)行程），過(guò)行程測(cè)力與SF相同，但工作范圍更大，并在測(cè)頭Z軸方向提供保護(hù)。

特性與優(yōu)點(diǎn)

應(yīng)變片技術(shù)具有的重復(fù)性和精確的三維輪廓測(cè)量
零復(fù)位誤差
無(wú)各向同性影響
六向測(cè)量能力
測(cè)針測(cè)量距離達(dá)100 mm（GF測(cè)針）
快速測(cè)頭模塊交換，無(wú)需重新標(biāo)定測(cè)尖
壽命 >1000萬(wàn)次觸發(fā)

TP200 / TP200B測(cè)頭本體

TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和精確的三維輪廓測(cè)量，即使配用長(zhǎng)測(cè)針時(shí)也不例外。

傳感器技術(shù)提供亞微米級(jí)的重復(fù)性，并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測(cè)頭存在的各向異性問(wèn)題。測(cè)頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了在數(shù)百萬(wàn)次觸發(fā)中的可靠操作。

TP200B采用的技術(shù)與TP200相同，但允許更高的振動(dòng)公差。這有助于克服因坐標(biāo)測(cè)量機(jī)傳導(dǎo)振動(dòng)或在移動(dòng)速度很高的情況下使用長(zhǎng)測(cè)針?biāo)l(fā)的誤觸發(fā)問(wèn)題。

請(qǐng)注意：我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄式/星形測(cè)針。

規(guī)格摘要	TP200	TP200B
主要應(yīng)用	用于需要高精度的數(shù)控坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。	與TP200一樣，但當(dāng)出現(xiàn)誤觸發(fā)事件時(shí)。
感應(yīng)方向	六軸：±X、±Y、±Z	六軸：±X、±Y、±Z
單向重復(fù)性 (2σ μm)	電平觸發(fā)1：0.40 μm 電平觸發(fā)2：0.50 μm	電平觸發(fā)1：0.40 μm 電平觸發(fā)2：0.50 μm
XY (2D) 輪廓測(cè)量偏差	電平觸發(fā)1：±0.80 μm 電平觸發(fā)2：±0.90 μm	電平觸發(fā)1：±1 μm 電平觸發(fā)2：±1.2 μm
XYZ (3D) 輪廓測(cè)量偏差	電平觸發(fā)1：±1 μm 電平觸發(fā)2：±1.40 μm	電平觸發(fā)1：±2.50 μm 電平觸發(fā)2：±4 μm
測(cè)針交換的重復(fù)性	SCR200：±0.50 μm（較大）手動(dòng)：±1 μm（較大）	SCR200：±0.50 μm（較大）手動(dòng)：±1 μm（較大）
測(cè)力（測(cè)尖）	XY平面（所有模塊）：0.02 N Z軸（所有模塊）：0.07 N	XY平面（所有模塊）：0.02 N Z軸（所有模塊）：0.07 N
過(guò)行程測(cè)力（位移為0.50 mm時(shí)）	XY平面（SF / EO模塊）：0.2 N至0.4 N XY平面（LF模塊）：0.1 N至0.15 N Z軸（SF / EO模塊）：4.90 N Z軸（LF模塊）：1.60 N	XY平面（SF / EO模塊）：0.2 N至0.4 N XY平面（LF模塊）：0.1 N至0.15 N Z軸（SF / EO模塊）：4.90 N Z軸（LF模塊）：1.60 N
重量（測(cè)頭傳感器和模塊）	22 g	22 g
較長(zhǎng)加長(zhǎng)桿（如配在PH10 PLUS系列測(cè)座上）	300 mm	300 mm
推薦的較大測(cè)針長(zhǎng)度（M2測(cè)針系列）	SF / EO模塊：50 mm鋼質(zhì)至100 mm GF LF模塊：20 mm鋼質(zhì)至50 mm GF	SF / EO模塊：50 mm鋼質(zhì)至100 mm GF LF模塊：20 mm鋼質(zhì)至50 mm GF
安裝方式	M8螺紋	M8螺紋
適合的接口	PI 200-3、UCC	PI 200-3、UCC
測(cè)針模塊交換架	自動(dòng)：SCR200 手動(dòng)：MSR1	自動(dòng)：SCR200 手動(dòng)：MSR1
測(cè)針系列	M2	M2

TP200測(cè)針模塊

測(cè)針模塊通過(guò)高重復(fù)性機(jī)械定位的磁性接頭安裝在TP200/TP200B測(cè)頭本體上，具有快速測(cè)針交換功能和測(cè)頭過(guò)行程保護(hù)功能。

有三種測(cè)針模塊可供選擇，具有兩種不同的過(guò)行程測(cè)力。

模塊	SF（標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力）	LF（低測(cè)力）	EO（長(zhǎng)過(guò)行程）
應(yīng)用	一般使用。	小直徑測(cè)球或必須使用較小測(cè)力的場(chǎng)合。	額外過(guò)行程使坐標(biāo)測(cè)量機(jī)在較高的碰觸速度下安全停止并回退。
說(shuō)明	測(cè)針較長(zhǎng)可達(dá)100 mm，測(cè)球直徑 > 1 mm。	測(cè)球直徑小于1 mm。	與SF的過(guò)行程測(cè)力相同。測(cè)頭Z軸的額外過(guò)行程為8 mm。

模塊

SF（標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力）

LF（低測(cè)力）

EO（長(zhǎng)過(guò)行程）

應(yīng)用

一般使用。

小直徑測(cè)球或必須使用較小測(cè)力的場(chǎng)合。

額外過(guò)行程使坐標(biāo)測(cè)量機(jī)在較高的碰觸速度下安全停止并回退。

說(shuō)明

測(cè)針較長(zhǎng)可達(dá)100 mm，測(cè)球直徑 > 1 mm。

測(cè)球直徑小于1 mm。

與SF的過(guò)行程測(cè)力相同。

測(cè)頭Z軸的額外過(guò)行程為8 mm。

SCR200交換架

SCR200可以高速自動(dòng)交換多達(dá)六個(gè)TP200測(cè)針模塊。SCR200由獨(dú)立的測(cè)頭接口 — PI 200-3供電，并可確保安全的測(cè)針交換。SCR200套件可包含低測(cè)力和標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力組件，每一種套件都包含一個(gè)SCR200加上三個(gè)測(cè)力相同的測(cè)針模塊。