在 IC 芯片研發(fā)與量產(chǎn)環(huán)節(jié)，溫濕度試驗(yàn)箱是模擬復(fù)雜工況、驗(yàn)證芯片長期可靠性的核心設(shè)備。廣東皓天檢測儀器有限公司（簡稱 “廣皓天"）憑借高精度溫濕度試驗(yàn)箱解決方案，已為多家半導(dǎo)體企業(yè)攻克汽車級(jí)、工業(yè)級(jí) IC 芯片的溫濕度耐受性難題，助力芯片在環(huán)境下的故障率降低 70%，穩(wěn)定運(yùn)行壽命提升至 10 萬小時(shí)以上。
針對(duì)某車企車規(guī)級(jí) MCU 芯片的高低溫可靠性測試需求，廣皓天定制的溫濕度試驗(yàn)箱實(shí)現(xiàn) - 55℃~150℃超寬溫域控制，溫度變化速率達(dá) 15℃/min，濕度控制精度 ±2% RH，符合 AEC-Q100 標(biāo)準(zhǔn)要求。在模擬發(fā)動(dòng)機(jī)艙高溫與冬季極寒交替場景中，該溫濕度試驗(yàn)箱連續(xù) 1000 小時(shí)循環(huán)切換 - 40℃低溫與 125℃高溫環(huán)境，實(shí)時(shí)監(jiān)測芯片引腳接觸電阻、邏輯功能穩(wěn)定性。測試發(fā)現(xiàn)，原芯片在 - 35℃以下存在指令響應(yīng)延遲問題，基于溫濕度試驗(yàn)箱提供的 80 組失效數(shù)據(jù)，企業(yè)優(yōu)化芯片封裝材料與內(nèi)部布線設(shè)計(jì)，最終使芯片在 - 40℃~125℃全溫域內(nèi)功能故障率降至 0.1% 以下，順利通過車規(guī)認(rèn)證。
為解決工業(yè)級(jí)傳感器芯片在高濕環(huán)境下的性能衰減問題，廣皓天溫濕度試驗(yàn)箱構(gòu)建 “85℃+85% RH" 雙 85 高溫高濕老化場景。設(shè)備搭載不銹鋼內(nèi)膽與精密濕度傳感器，連續(xù) 500 小時(shí)模擬化工車間高濕工況，實(shí)時(shí)記錄芯片靈敏度變化。測試數(shù)據(jù)顯示，未優(yōu)化芯片在高濕環(huán)境下靈敏度下降 25%，而基于溫濕度試驗(yàn)箱反饋的封裝缺陷數(shù)據(jù)，企業(yè)改進(jìn)密封工藝后，芯片靈敏度衰減率控制在 5% 以內(nèi)，滿足工業(yè)自動(dòng)化長期運(yùn)行需求。
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