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量程：X200mm Y100mm工作臺(tái)尺寸：400mm×150mm投影屏直徑（mm):350mm解析度：0.001mm

SPECTROTEST CCD光譜儀是在斯派克公司多年的光譜制造傳統(tǒng)以及遍布世界的近兩萬(wàn)個(gè)用戶的使用經(jīng)驗(yàn)的基礎(chǔ)上制造出來(lái)的。

SPECTRO iSORT手持式光譜儀是一種功能*，并且可擴(kuò)展的手持式光譜儀，廣泛用于金屬材料的成分分析，牌號(hào)鑒別和快速分選。

工作原理：采用X射線熒光（XRF）技術(shù)進(jìn)行多元素分析＊探 測(cè) 器：高性能、高分辨率Si-Pin X射線探測(cè)器，Peltier效應(yīng)半導(dǎo)體制冷

采用微處理器控制的數(shù)字化激發(fā)光源、專(zhuān)門(mén)針對(duì)發(fā)射光譜分析開(kāi)發(fā)CCD檢測(cè)器、高性能讀出系統(tǒng)、新型火花臺(tái)、創(chuàng)新的光學(xué)系統(tǒng)以及*的ICAL智能邏輯校正系。

德國(guó)光譜儀新型SPECTROMAXx有臺(tái)式和落地式兩種配置，可以根據(jù)用戶的具體需要選擇。

刀刃角度測(cè)量功能刀尖圓弧半徑測(cè)量功能X、Z軸二維距離測(cè)量功能嵌入式*預(yù)調(diào)管理系統(tǒng)軟件標(biāo)準(zhǔn)刀柄管理測(cè)量系統(tǒng)軟件通過(guò)RS232輸出打印機(jī)打印出數(shù)據(jù)通過(guò)USB可與普通...

日本三豐SJ-301粗糙度儀測(cè)量參數(shù)：Ra、Rz、Ry、Rq、Rp、Rt、R3z、Rmax、…平移范圍：X軸12.5mm 分辨率：0.01um測(cè)量范圍：350u...

日本三豐SJ-201粗糙度儀測(cè)量參數(shù)：Ra、Rz、Ry、Rq、Rp、…平移范圍：X軸12.5mm 分辨率：0.01um測(cè)量范圍：350um(-200um ~ +...

英國(guó)Aberlink三坐標(biāo)型號(hào):AXIOM too 測(cè)量行程:540mm×600mm×500mm測(cè)量行程:900mm×600mm×500mm線性精度:U3=0....

XLt898便攜式合金成分分析儀 XLi/XLt800系列合金成分分析儀，該產(chǎn)品為世界*的高性能、手持式X射線熒光設(shè)備，能夠?qū)Υ蠖鄶?shù)合金進(jìn)行成分和規(guī)格鑒定。

激發(fā)光源:數(shù)字化光源是智能復(fù)合型數(shù)字化光源，不需 輔助間 隙，能完成單基體和多基體分析任務(wù) 波長(zhǎng)范圍: 160nm-670nmCCD檢測(cè)器全譜接收

量程：X200mm Y100mm 工作臺(tái)尺寸：400mm×150mm 投影屏直徑（mm):350mm 解析度：0.001mm

量程：X200mm Y100mm 工作臺(tái)尺寸：400mm×150mm 投影屏直徑（mm):350mm 解析度：0.001mm

量程：X200mm Y100mm 工作臺(tái)尺寸:350mm×170mm 投影屏直徑（mm):315mm 量程：X250mm Y150mm 工作臺(tái)尺寸:400mm×...

一.產(chǎn)品介紹: 測(cè)量范圍：250150150MM（X，Y，Z） 測(cè)量范圍：300200200MM（X，Y，Z） 測(cè)量范圍：400300250MM（X，Y，Z） ...