詳細摘要： 高頻段傳播特性測量平臺主要針對毫米波段進行信號傳播特性測試，包括 MIMO 信道參數(shù)分析、建模能力以及 SISO 天線參數(shù)解析能力測試。其多通道收發(fā)一體、高性能...
產(chǎn)品型號：所在地：上海更新時間：2024-07-29 在線留言上海德竹芯源科技有限公司
上海德竹芯源科技有限公司
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詳細摘要： 高頻段傳播特性測量平臺主要針對毫米波段進行信號傳播特性測試，包括 MIMO 信道參數(shù)分析、建模能力以及 SISO 天線參數(shù)解析能力測試。其多通道收發(fā)一體、高性能...
產(chǎn)品型號：所在地：上海更新時間：2024-07-29 在線留言
詳細摘要： IFR 4000 是一個緊湊、輕便和防風雨的單元，專為測試 ILS、VOR、標記信標和甚高頻/超高頻通信航空電子系統(tǒng)而設(shè)計。
產(chǎn)品型號：所在地：上海更新時間：2024-07-29 在線留言
詳細摘要： IFR6000 是一個緊湊、輕便和防風雨的單元，旨在測試轉(zhuǎn)發(fā)器模式 A/C/S、1090 MHz ADS-B 和 978 MHz UAT、TCAS I 和 II...
產(chǎn)品型號：所在地：上海更新時間：2024-07-28 在線留言
詳細摘要： 紅外加熱型升溫脫附質(zhì)譜儀TDS1200II是一種通過質(zhì)譜儀實時觀測樣品在超高真空中編程升溫時脫附的分子的分析儀。
產(chǎn)品型號：所在地：上海更新時間：2024-07-28 在線留言
詳細摘要： 激光橢偏儀 SE 400adv 測量透明薄膜的厚度和折射率指數(shù)，具有測量速度、亞埃級別的厚度精度和折射率測定的精度。多角度測量允許使用激光橢偏儀 SE 400a...
產(chǎn)品型號：SE 400adv所在地：上海更新時間：2024-06-09 在線留言
詳細摘要： 光譜橢偏儀 SENpro 具有操作簡單，測量速度快，能對不同入射角的橢偏測量數(shù)據(jù)進行組合分析等特點。光譜范圍為 370 到 1050 nm。SENpro 的光譜...
產(chǎn)品型號：SENpro所在地：上海更新時間：2024-06-06 在線留言
詳細摘要： 接觸角測定儀，用于測量固體、液體和氣體三相之間的接觸角。通過測量接觸角，計算、測定液體對固體的附著力，固體表面張力和固體表面能等指標。該儀器可用于半導(dǎo)體制造、新...
產(chǎn)品型號：ASTRO-CA100所在地：上海更新時間：2024-05-12 在線留言
詳細摘要： 動態(tài)二次離子質(zhì)譜儀（D-SIMS）是使用一次離子束（通常是Cs源）轟擊樣品表面，而產(chǎn)生二次離子，然后用質(zhì)譜分析儀分析二次離子的質(zhì)荷比（m/q），從而得知元素在樣...
產(chǎn)品型號：ADEPT 1010所在地：上海更新時間：2024-01-21 在線留言
詳細摘要： 金屬有機物前驅(qū)體和反應(yīng)氣體在真空腔體交替填充、覆蓋且反應(yīng)，形成原子級精度（厚度和原子排布）的薄膜。
產(chǎn)品型號：ALD-SC6-PE / ALD-SC8-PE/ ALD-SC12-PE所在地：上海更新時間：2024-01-19 在線留言
詳細摘要： PICOSUN? P-300 系統(tǒng)擁有的熱壁、獨立的前驅(qū)體管路和特殊的載氣設(shè)計，確?？梢陨a(chǎn)出具有優(yōu)異的成品率、低顆粒水平和的電學(xué)和光學(xué)性能的高質(zhì)量 ALD 薄...
產(chǎn)品型號：P-300B所在地：上海更新時間：2024-01-17 在線留言
詳細摘要： PICOSUN? R-200 標準 ALD 系統(tǒng)適用于數(shù)十種應(yīng)用的研發(fā)，例如 IC 組件、MEMS 設(shè)備、顯示器、LED、激光器和 3D 對象，例如透鏡、光學(xué)器...
產(chǎn)品型號：R-200 Standard所在地：上海更新時間：2024-01-15 在線留言
詳細摘要： Picosun R-200 系列原子層沉積系統(tǒng)是一款多功能的原子層沉積平臺，是用于研發(fā)的理想選擇，適用于 IC 器件、MEMS 器件、顯示器、LED、激光器以及...
產(chǎn)品型號：R-200 Advance所在地：上海更新時間：2024-01-13 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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