zeta電位測定儀是采用光子相關(guān)光譜法、電泳光散射以及FST技術(shù)來分析，并可測定固體以及高濃度懸浮液的zeta電位。該儀器采用了高靈敏度測量技術(shù)，可同時滿足低濃度和高濃度樣品納米粒度與zeta電位分析的要求。可用于測定分散體系顆粒物的固－液界面電性（ζ電位），也可用于測量乳狀液液滴的界面電性，也可用于測定等電點(diǎn)、研究界面反應(yīng)過程的機(jī)理。通過測定顆粒的Zeta電位，求出等電點(diǎn)，是認(rèn)識顆粒表面電性的重要方法，在顆粒表面處理中也是重要的手段。與國內(nèi)外其它同類型儀器相比，它具有顯著的性。可廣泛應(yīng)用于化妝品、選礦、造紙、醫(yī)療衛(wèi)生、建筑材料、超細(xì)材料、環(huán)境保護(hù)、海洋化學(xué)等行業(yè)，也是化學(xué)、化工、醫(yī)學(xué)、建材等專業(yè)的重要教學(xué)儀器之一。
zeta電位測定儀光學(xué)特點(diǎn)：
1.傳統(tǒng)測量原理：通過傳統(tǒng)微電泳方法測量膠體顆粒的zeta 電位。與激光光散射法相比，沒有黑盒子。
2.通過激光暗場照明觀察納米顆粒：502的*的超顯微鏡設(shè)計提供了一個高對比度的圖像，即使是納米粒子。依賴于顆粒對懸浮介質(zhì)的相對折射率不同，可測量小至20nm的顆粒。
3.在靜止層觀察顆粒：高水平的激光光學(xué)系統(tǒng)和高性能的CCD攝像頭可以僅觀察靜止層的顆粒。其提供的高精度結(jié)果不受電滲流的影響。
4.水平設(shè)置的長方形電泳池：水平放置的長方形電泳池提供了一個高度準(zhǔn)確的結(jié)果。因為這樣的布局幾乎不存在由于池壁附近顆粒沉淀引起電滲流非對稱化。
zeta電位測定儀注意事項：
1、若要進(jìn)行酸堿滴定測等電點(diǎn)或測PH值，則每次實驗前須校正PH探針;若要測試溶液電導(dǎo)率，則須校正電導(dǎo)率。主探頭可每周校正一次。
2、每次更換樣品均需要清洗主探頭、PH探針以及容器，洗好擦干以免前面殘留粉末影響實驗結(jié)果。
3、實驗結(jié)束后要*清洗主探頭、PH探針和容器，并將PH探針放回酸性緩沖液中。
4、若進(jìn)行酸堿滴定則每次關(guān)機(jī)前需將酸堿滴定管清洗3~5次。
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