Interferometric Displacement Sensor (IDS) 參考價(jià)：面議
TheInterferometric Displacement Sensor (IDS)option for the Cypher AFM directly m...
導(dǎo)電原子顯微鏡（ORCA） 參考價(jià)：面議
憑借ORCA導(dǎo)電原子力顯微鏡的探針夾持器，所有MFP-3D 原子力顯微鏡都可以進(jìn)行導(dǎo)電AFM成像和I-V性能測量。標(biāo)準(zhǔn)模塊能夠測量約1 pA至20 nA的電流。...
掃描微波阻抗顯微術(shù)(sMIM) 參考價(jià)：面議
sMIM 可在Cypher原子力顯微鏡上實(shí)現(xiàn)對(duì)金屬、半導(dǎo)體和絕緣材料的納米級(jí)的介電常數(shù)和導(dǎo)電性成像。詢價(jià) 增加到詢價(jià)列表 在詢價(jià)列表中查看此產(chǎn)品
掃描電容顯微鏡（SCM）配件 參考價(jià)：面議
掃描電容顯微鏡（SCM）是一種表征材料納米電學(xué)性質(zhì)的原子力顯微鏡(AFM)成像技術(shù)，它使用微波射頻(RF)信號(hào)來探測半導(dǎo)體和其它種類樣品中的電荷，載流子的位置，...
電化學(xué)應(yīng)變顯微術(shù)（ESM） 參考價(jià)：面議
ESM是一種新穎的掃描探針顯微術(shù)，它適用于Cypher 原子力顯微鏡。這種顯微術(shù)能夠以一種新奇的分辨率，探測電化學(xué)活性和固體中的離子流動(dòng)。詢價(jià) 增加到詢價(jià)列表 ...
電化學(xué)腔室 參考價(jià)：面議
利用電化學(xué)腔室（EC腔室），可以對(duì)電化學(xué)過程進(jìn)行表征（EC-AFM）。EC腔室套件包括：一個(gè)液體杯、探針夾持器、樣品支架和標(biāo)準(zhǔn)電極。用戶可以選擇自己的穩(wěn)壓器。這...
納米級(jí)依時(shí)性介質(zhì)擊穿（NanoTDDB） 參考價(jià)：面議
利用NanoTDDB，可以在Cypher原子力顯微鏡上實(shí)現(xiàn)納米級(jí)精度的介質(zhì)擊穿測量。操作時(shí)可以施加恒定電壓，或逐漸增加的偏壓（達(dá)150 V），同時(shí)利用一個(gè)導(dǎo)電的...
高壓壓電響應(yīng)力顯微術(shù)（PFM） 參考價(jià)：面議
利用Cypher 原子力顯微鏡的HV-PFM選項(xiàng)，可以對(duì)壓電材料（包括鐵電體和多鐵性材料）進(jìn)行高靈敏度、高偏壓、以及無串?dāng)_的測量。該套件包括：一個(gè)集成的高壓放大...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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