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產(chǎn)品型號：所在地：更新時(shí)間：2024-02-17 在線留言深圳市嘉士達(dá)精密儀器有限公司
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深圳市嘉士達(dá)精密儀器有限公司
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詳細(xì)摘要： SE300橢偏儀400nm到1000nm測量薄膜材料厚度產(chǎn)品簡介SE300橢偏儀是一種利用光的偏振態(tài)變化來進(jìn)行薄膜性質(zhì)表征的儀器，主要用來測量薄膜材料的厚度、N...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時(shí)間：2024-02-15 在線留言
詳細(xì)摘要： SE200BA-M300橢偏儀測量250nm到1000nm薄膜材料厚度分析設(shè)備產(chǎn)品簡介橢偏儀是一種利用光的偏振態(tài)變化來進(jìn)行薄膜性質(zhì)表征的儀器，主要用來測量薄膜材...
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詳細(xì)摘要： FPD-IG-175可視化及測量光譜激光束的時(shí)間特性光電探測器主要優(yōu)點(diǎn)FPD-IG-175是一種快速光學(xué)探頭，用于可視化及測量光譜范圍為900nm至1700nm...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時(shí)間：2023-09-03 在線留言
詳細(xì)摘要： HSA-X-S-2G-IN超快貳兆赫茲光電探測器產(chǎn)品簡介HSA-X-S-2G-IN超快貳兆赫茲光電探測器，德國FEMTO品牌，探測器為0.1mmInGaAs-P...
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