一、高溫試驗(yàn)
80±2℃環(huán)境中放置4h,常溫下放置2h后,各尺寸、絕緣電阻、耐壓、按鍵功能、回路電阻符合正常要求,且外觀無變形、翹曲、脫膠等異?，F(xiàn)象。按鍵凸點(diǎn)高溫下塌以及按力變小不作考核。
二、 低溫試驗(yàn)
-30±2℃環(huán)境中放置4h,常溫下放置2h后,各尺寸、絕緣電阻、耐壓、按鍵功能、回路電阻符合正常要求,且外觀無變形、翹曲、脫膠等異常現(xiàn)象。
三、 溫度循環(huán)試驗(yàn)
在70±2℃的環(huán)境中放置30分鐘,取出在常溫下放置5分鐘；在-20±2℃環(huán)境中放置30分鐘,取出在常溫下放置5分鐘。經(jīng)過如此5個(gè)循環(huán)后,各尺寸、絕緣電阻、耐壓、按鍵功能、回路電阻符合正常要求,且外觀無變形、翹曲、脫膠等異?，F(xiàn)象。按鍵凸點(diǎn)高溫下塌以及按力變小不作考核。
四、耐溫?zé)?/span>
在溫度40±2℃,相對濕度93±2%rh的環(huán)境中放置48h,取出在常溫下放置2h后,各尺寸、絕緣電阻、耐壓、按鍵功能、回路電阻符合正常要求,且外觀無變形、翹曲、脫膠等異?，F(xiàn)象。按鍵凸點(diǎn)高溫下塌以及按力變小不作考核。
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