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閱讀：29發(fā)布時(shí)間：2026-6-16
用二合一解決方案進(jìn)行清潔度分析 | 同時(shí)查看顆粒并了解其成分
整個(gè)分析工作流程比掃描電子顯微鏡(SEM)等其他方式更加快速，因?yàn)椋?/p>
無(wú)需樣本制備；
無(wú)需將樣本轉(zhuǎn)移到其他設(shè)備；
過濾樣本始終在大氣條件下在空氣中進(jìn)行分析。
二合一解決方案可提供待分析顆粒的目視和化學(xué)數(shù)據(jù)，能夠在更短時(shí)間內(nèi)為生產(chǎn)、質(zhì)量控制和故障分析的進(jìn)一步行動(dòng)作出合理決策。
二合一解決方案，比如徠卡顯微系統(tǒng)DM6 M LIBS材料分析解決方案（參見圖1），結(jié)合了光學(xué)顯微鏡（目視分析）和激光誘導(dǎo)擊穿光譜（LIBS）（化學(xué)分析）。為實(shí)現(xiàn)高效的清潔度分析，大家對(duì)二合一解決方案相較于掃描電子顯微鏡(SEM)和能量色散譜（EDS）等其他方式的優(yōu)勢(shì)進(jìn)行了討論。
圖1：徠卡顯微系統(tǒng)的DM6 M LIBS解決方案可同時(shí)采用光學(xué)顯微鏡和LIBS（激光誘導(dǎo)擊穿光譜）進(jìn)行清潔度分析。使用這種二合一解決方案的化學(xué)分析工作流程能夠以更少的時(shí)間和精力找出污染源。
更易于找到并消除污染源
對(duì)于清潔度技術(shù)，最終目標(biāo)是找到并消除污染源。因?yàn)楹?jiǎn)化了清潔度分析工作流程，二合一解決方案能夠以更少的時(shí)間和精力確定污染源。
與掃描電子顯微鏡（SEM）和能量色散譜（EDS）分析不同，該解決方案：
無(wú)需樣本制備；
無(wú)需將樣本從一個(gè)設(shè)備轉(zhuǎn)移到另一個(gè)；
無(wú)需將重點(diǎn)轉(zhuǎn)移到過濾器并對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行調(diào)整；
不用浪費(fèi)時(shí)間等待真空環(huán)境（分析始終在大氣條件下在空氣中進(jìn)行）
下方的圖2對(duì)比了使用二合一解決方案和SEM/EDS進(jìn)行清潔度分析工作流程的區(qū)別。
清潔度分析工作流程二合一解決方案與光學(xué)+電子顯微鏡
圖2：使用DM6 M LIBS系統(tǒng)這樣將光學(xué)顯微鏡（OM）和LIBS相結(jié)合的二合一解決方案能夠更快找出污染源。
二合一解決方案：
顆粒成像和成分分析
下方的圖3顯示了使用徠卡顯微系統(tǒng)的DM6 M LIBS解決方案對(duì)過濾器上的顆粒進(jìn)行目視和化學(xué)分析的示例。
圖3：使用DM6 M LIBS二合一解決方案進(jìn)行清潔度分析：A)對(duì)過濾器上的一個(gè)顆粒進(jìn)行檢測(cè)、計(jì)算和測(cè)量；B)如果顆粒為金屬，使用適當(dāng)?shù)墓鈱W(xué)對(duì)比法可以看到顆粒的反射；C)使用LIBS，對(duì)過濾器上檢測(cè)到的顆粒進(jìn)行激光打靶（紅十字準(zhǔn)星）；D)LIBS的元素譜清楚顯示顆粒的成分是鋁（Al）。
高效的整體清潔度工作流程
在整體清潔度工作流程中，通常要用到來(lái)自不同供應(yīng)商的多種儀器設(shè)備進(jìn)行顆粒提取和分析。從顆粒提取到分析的整個(gè)工作流程使用“單一來(lái)源"的清潔度解決方案會(huì)更加方便。徠卡顯微系統(tǒng)和Pall就攜手為汽車和運(yùn)輸行業(yè)提供了這樣一個(gè)獨(dú)特的整體清潔度解決方案。使用Pall的清洗柜和徠卡顯微系統(tǒng)的DM6 M LIBS二合一解決方案的整體清潔度工作流程請(qǐng)見下方的圖4。
整體解決方案的優(yōu)勢(shì)是更易于實(shí)現(xiàn)清潔度分析的最終目標(biāo)：
確定顆粒導(dǎo)致?lián)p害的可能性；
對(duì)于可能嚴(yán)重威脅產(chǎn)品性能和使用壽命的顆粒，找出并消除污染源。
圖4：用于汽車行業(yè)、遵守VDA19的高效整體清潔度工作流程：從提取并保存過濾器上的顆粒（Pall的清洗柜）到目視和化學(xué)分析（徠卡顯微系統(tǒng)的DM6 M LIBS二合一解決方案）。目標(biāo)是更加快速地找出危險(xiǎn)顆粒的來(lái)源并加以清除。
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