BTX Profiler將2維傳輸XRD和能量色散XRF分析性能結(jié)合在一起，可以進行全面的材料組成成份分析。包含能量、地球化學、制藥、催化劑、法醫(yī)學及教育在內(nèi)的多種工業(yè)及科研領域，都是日下X Profiler發(fā)揮其高超的無損檢測性能的用武之地。
X射線衍射和X射線熒光組合技術
BTX Profiler可在XRD結(jié)構(gòu)分析(礦物學/結(jié)晶相)和XRF元素分析應用中發(fā)揮業(yè)內(nèi)的性能。要做到這點，需要在全面的材料組成成份分析的過程中，選擇具體分析的優(yōu)化技術，以將儀器的分析性能發(fā)揮到。
二維傳輸(2-D) XRD分析技術將一個微聚焦X射線源與一個高分辨率的電荷藕合器件(CCD)探測器結(jié)合在一起使用。
這種技術的開發(fā)基于火星科學實驗室“好奇"號曾經(jīng)使用的獲獎設計。
能量色散(ED) XRF分析技術使用一個袖珍X射線管的可選、優(yōu)化的光束路徑，以及專用于高級、大區(qū)域硅漂移探測器(SDD)的過濾器。這種技術的開發(fā)基于Olympus的XRF分析儀器所使用的獲獎設計。
XRD和XRF組合技術
1 . XRD微聚焦X射線管
2. XRD X射線束
3. XRD準直器
4. XRD樣品
5. CCD探測器
6. XRF X射線管
7. 濾光輪
8. XRF X射線束
9. XRF樣品
10. XRF SDD探測器
