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閱讀：39發(fā)布時(shí)間：2025-10-31
1、為什么要進(jìn)行擋板校正？
紅外探測(cè)器作為紅外熱像儀的核心器件，由于制造工藝等原因，紅外探測(cè)器在成像時(shí)存在嚴(yán)重的非均勻性，因此需要紅外熱像儀在初次上電或長(zhǎng)時(shí)間工作后進(jìn)行非均勻校正，以提高成像質(zhì)量。目前紅外熱像儀通常采用兩點(diǎn)與單點(diǎn)非均勻校正相結(jié)合的方法，在紅外熱像儀裝配完成后通過(guò)黑體設(shè)備進(jìn)行兩點(diǎn)非均勻校正，將校正系數(shù)保存組件中，以后每次組件正常工作以非均勻校正檔片為基準(zhǔn)進(jìn)行單點(diǎn)非均勻校正。該方法要求每次進(jìn)行單點(diǎn)非均勻校正時(shí)，校正擋板響應(yīng)值在兩點(diǎn)校正系數(shù)線性區(qū)內(nèi)。
紅外測(cè)溫效果圖
2、熱像儀散熱對(duì)擋板校正有什么影響？
紅外熱像儀經(jīng)常在密閉的環(huán)境中使用，系統(tǒng)散熱效果不佳，紅外熱像儀的功耗幾乎全部轉(zhuǎn)化為熱量，在系統(tǒng)內(nèi)堆積，隨著時(shí)間的推移系統(tǒng)內(nèi)部溫度逐漸升高。造成非均勻校正擋板溫度升高，在進(jìn)行非均勻校正時(shí)，擋板切入，由于擋板溫度升高，紅外探測(cè)器對(duì)擋板的紅外響應(yīng)，已超出兩點(diǎn)校正線性區(qū)間，此時(shí)進(jìn)行非均勻校正，校正效果會(huì)變差。表現(xiàn)為校正后紅外成像效果變差，有很強(qiáng)的非均勻性。
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