這款X射線熒光光譜測厚儀Thick800A是專門針對鍍層厚度測量而精心設計的一款新型X射線鍍層測厚儀和X射線厚度測量儀.主要應用于:金屬鍍層的厚度測量,電鍍液和鍍層含量的測定;黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.由于X光測厚儀是在線測量儀表,檢測的厚度是鋼板熱態(tài)時的厚度,這樣會和冷態(tài)時的厚度有一定的偏差,所以就增加了溫度補償系數(shù).使在線測量的數(shù)據(jù)與冷態(tài)時保持一致.同樣如果軋制材質(zhì)有變化時,也會給測量帶來誤差.這時只需將不同材質(zhì)的樣板進行檢測,計算出合金補償系數(shù),也可以使測量數(shù)據(jù)和實際材質(zhì)厚度保持一致.
X射線熒光光譜測厚儀的主要優(yōu)勢有：
1、X光測厚儀有優(yōu)化的配置，性價比?！?/span>
2、提供的控制參數(shù)。
3、測量中不會造成對金屬鍍層的表面劃傷和其他缺陷。
4、X光測厚儀精確，穩(wěn)定，高速的無接觸測量。5、備件充足，售后服務快速細致。
x射線熒光光譜測厚儀Thick800A技術(shù)指標
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。 同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型。相互獨立的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序 適應范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm 樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
x射線熒光光譜測厚儀Thick800A特色
1.可測量0.01um-300um的鍍層。
2.可做各種鍍層（多層、合金、多層鎳）的精密測量。
3.除平板形外，還可測量圓形、棒形（細線）等各種形狀。
4.可制作非破壞性膜厚儀的標準板。
5.該電鍍膜厚檢測儀可檢查非破壞式膜厚儀的測量精度。
6.可高精度測量其他方式不易測量的三層以上的鍍層。
7.可對測量數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計處理，以及和逐級進行共同管理。
8.標準板校正值的計算和設定可自動進行，非常簡單。
9.有微處理器來進行計算、儲存、思考。
10.本膜厚儀采用全對話是操作，因此，只要依據(jù)測量條件來進行設定就可測量情況，非常簡單。
11.多可設定四層鍍層，而每一層均可進行統(tǒng)計處理。例如：測量條件、平均值、值、小值、上下限值、直方圓均可進行計算并可有列印機印出，制作測量報告很容易。
12.每種鍍層所需的電解液、敏感度及攪動標準的選擇，均可由電鍍膜厚檢測儀的微處理器自動判斷、設定。
13.測量數(shù)據(jù)可由通訊網(wǎng)路來傳輸，所以能和主機共同進行數(shù)據(jù)管理。
14.由于分解速度差距分得很細，因此可縮短測量時間。
15.可分離測量銅（合金）上的錫（合金）鍍層間的擴散（合金）層。
16.由于可儲存６４個不同的測量情況，所以有相同的測量情況時，就不必再進行設定。
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