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產(chǎn)地	進(jìn)口	加工定制	否

低阻抗率計(jì) MCP-T370型 (手提式)

商品名稱：	低阻抗率計(jì) MCP-T370型 (手提式) Loresta-AX
特色：	維持安定之高品質(zhì)，依據(jù)世界之四探針理論之高精度之阻抗率計(jì)。操作簡單，現(xiàn)場使用攜帶型方便，用於生產(chǎn)技術(shù)、品質(zhì)管理
測定範(fàn)圍：	10^-2～10⁶Ω
資料輸出：	USB Memory
尺寸：	約 228 ^L× 85 ^W× 65 ^Hmm, 420g

商品名稱：低阻抗率計(jì) MCP-T370型 (手提式) Loresta-AX 特色：維持安定之高質(zhì)量，依據(jù)世界之四探針理論之高精度之阻抗率計(jì) 操作簡單，現(xiàn)場使用攜帶型方便，用于生產(chǎn)技術(shù)、質(zhì)量管理測定范圍： 10-2～106Ω 資料輸出： USB Memory 體積：約 228 W× 85 D× 65 Hmm, 420g 標(biāo)準(zhǔn)配備 ASP探頭 MCP-TPO3P《四探針探頭》利用價值廣泛標(biāo)準(zhǔn)探頭JIS K7194對應(yīng)， Pin間 5mm，Pin尖 0.37R×4支，壓力 210g/支，尺寸 35W×20L×35Hmm MCP-TA06 充電器選購品 ESP探頭 MCP-TPO8P《四探針探頭》不均一樣品用 Pin間 5mm，Pin尖 Ø 2×4支，壓力 240g/支，尺寸 35W×20L×35Hmm PSP探頭 MCP-TPO6P《四探針探頭》小樣品或薄膜用 Pin間 1.5mm，Pin尖 0.26R×4支，壓力 70g/支，尺寸 Ø 10-20× L112mm QPP探頭 MCP-TPQPP《四探針探頭》微小樣品用 Pin間 1.5mm，Pin尖 0.26R×4支，壓力 70g/支，尺寸 Ø 10-20× L112mm NSCP探頭 MCP-NSCP《四探針探頭, 特殊用探頭》 Silicone wafer用 Pin間 1.0mm，Pin尖 0.04R×4支，壓力 250g/支 BSP探頭 MCP-TPO5P《四探針探頭, 特殊用探頭》大樣品用 Pin間 2.2mm，Pin尖 0.37R×4支，壓力 210g/支 TFP探頭 MCP-TFP《四探針探頭, 特殊用探頭》 Silicone wafer或玻璃基板上之薄膜用 Pin間 1.0mm，Pin尖 0.15R×4支，壓力 50g/支 AP探頭 MCP-TPAP《二探針探頭》標(biāo)準(zhǔn)樣式 Pin間 10mm，Pin尖 Ø 2×2支，壓力 240g/支 BP探頭 MCP-TPBP《二探針探頭》大樣品用 Pin尖 Ø 2×2支，壓力 240g/支 MCP-TRF1探頭檢驗(yàn)片 ASP, ESP探頭用 (探頭檢驗(yàn)片于測定前檢查之) MCP-TRPS 探頭檢驗(yàn)片 PSP探頭用 (探頭檢驗(yàn)片于測定前檢查之) MCP-TRTF 探頭檢驗(yàn)片 TFP, NSCP探頭用 (探頭檢驗(yàn)片于測定前檢查之)