灼熱絲試驗的實施主要依賴于測試裝置來進行，試驗操作相對比較簡單，因此一些試驗人員認為該檢測項目出現(xiàn)結(jié)果偏離的原因主要集中于樣品預(yù)的處理、樣品的裝夾位置和試驗時的環(huán)境。其實這種認為并不全面，在灼熱絲試驗中除上述關(guān)注要點之外還有多個環(huán)節(jié)會對測試結(jié)果是否偏離起著至關(guān)重要的影響，分析如下：
當(dāng)被試樣品觸及灼熱絲時，灼熱絲溫度會有一個明顯的先降后升的過程。為了解決這一問題，有些國外灼熱絲試驗裝置制造商在早期制造的試驗裝置中裝有了用于保持溫度穩(wěn)定的反饋裝置，以使試驗設(shè)備在進行灼熱絲試驗的整個過程中灼熱絲溫度是恒定的。
隨著標(biāo)準的不斷*，這種做法在標(biāo)準中予以了否定。在現(xiàn)行的GB/T5169.10-2⑴"VIECGOSQO-Z-IO^OOO121標(biāo)準5.1中明確規(guī)定“在試驗裝置加熱電路中不應(yīng)有用于保持溫度的反饋裝置或反饋回路”。
然而有些實驗室對早期購置的帶溫度反饋裝置的灼熱絲試驗裝置未能按標(biāo)準要求進行改進，致使用于保持溫度的反饋裝置仍被繼續(xù)使用。根據(jù)統(tǒng)計，雖然在先降后升過程中下降值和回升值的多少會隨預(yù)定試驗溫度的不同而有所不同，但在這一過程中下降溫度一般會比預(yù)定溫度下降100°c左右，回升后溫度會超過預(yù)定溫度20°C左右。
因此如果使用帶有溫度恒定裝置的灼熱絲試驗設(shè)備進行測試無疑是加嚴了測試條件。有兩個方面的規(guī)定。一個是灼熱絲頂部的校驗，主要內(nèi)容是需對灼熱絲頂部尺寸進行驗證；另一個是溫度測量系統(tǒng)的校驗，主要內(nèi)容是提供灼熱絲試驗裝置中溫度測量系統(tǒng)的校驗方法即“銀箔法”。
然而，目前有些實驗室在理解并執(zhí)行該段標(biāo)準要求時存在斷章取義的現(xiàn)象，主要表現(xiàn)為有些實驗室對灼熱絲試驗裝置在計量方面不進行外檢，而是采用自校的方式，并且自校的方法僅使用“銀箔法”進行。對于這種做法，筆者認為自校是可以的，但是僅用“銀箔法”進行自校是不妥的。
因為“銀箔法”只對試驗裝置溫度測量系統(tǒng)進行了校驗，而忽略了灼熱絲頂部尺寸尤其是熱點偶放置位置對灼熱絲測試結(jié)果影響的重要性。在GB/T5169.10-2006111/IEC60590-2-10:2000121標(biāo)準中明確規(guī)定灼熱絲頭部表面與熱電偶的距離應(yīng)為0.6±0.2mm。
