蘇州金合博源測控技術有限公司
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更新時間:2025-08-05 07:07:44瀏覽次數:630次
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離子遷移測試儀-256通道 1250V 有效監(jiān)測離子遷移引致表面絕緣阻抗(SIR)變化以及生產PCB內層陽極導電絲(CAF現象)。GEN3 CAF2可根據標準要求條件和自定義條件進行SIR,CAF測試,GEN3 CAF2和IEC,ISO,IPC,BSI......等機構保持緊密聯(lián)系合作,并訂立相關SIR測試協(xié)定,廣泛應用于成品壽命可靠度,材料和制程特性研究。
GEN3 Auto CAF2+離子遷移監(jiān)測系統(tǒng)設備
有效監(jiān)測離子遷移引致表面絕緣阻抗(SIR)變化及生成PCB內層陽極導電絲(CAF)

一、GEN3 CAF2(1250V)用途:
根據IPC標準中有明確要求,測試條款為IPC-TM-650 2.6.25 《Conductive Anodic Filament (CAF) Resistance》。另外各大汽車零部件廠商如德爾福、博世、大陸等也有其專門的企業(yè)測試標準,主要測試內容就是將被測PCB板放置在85℃,85%RH的環(huán)境中處理1000小時,并在PCB板的孔與孔之間、線與線之間,或者是孔與內層之間、層與層之間施加一定的電壓,然后持續(xù)監(jiān)控其絕緣阻值變化,通過絕緣阻值變化了解其內部可能存在的一系列問題,而這種測試的缺陷就是板材內部出現了CAF現象。通過CAF測試可以基本了解具體是在哪個工藝環(huán)節(jié)可能產生了問題,從而進一步工藝改善。具體包括指導PCB設計人員選用合適的孔間距和線間距;指導PCB制造商選用適合的耐CAF材料組合;指導PCB制造商改進生產工藝;指導CCL供應商改進材料配方和加工工藝。
可根據各種標準要求條件和自定義條件進行SIR,CAF測試。
GEN3保持和IEC,ISO,IPC,BSI......等機構學會的長期合作,發(fā)展并訂立相關SIR測試協(xié)定,應用于成品壽命可靠度,材料和制程特性研究。
GEN3 CAF2適用于:
IEC61189-5;ISO9455-17;IPC-TM-650;
BELLCORE GR78;DIN German & JIS Japanese STD;ANS/IPC-JSTD001;
IPS-JSTD-004;IPC-SM-840;IPC-CC-830&IEC 1086;IPC-9691;
ISO 19295:2016(E)Automotive.
二、GEN3 CAF2(1250V)測試原理:



三、GEN3 CAF2(1250V)規(guī)格:


四、關于CAF測試推薦配套:
根據CAF測試的標準中要求,需要將被測的-考試板放置在“80℃+85%RH”的環(huán)境中放置1000小時。故考慮到長時間的測試,對配套的“試驗箱”提出了要求,推薦使用-艾斯佩克GPR系列高低溫濕熱試驗箱。
4.1 下圖為GEN3 CAF2+GPR系列(400L)實物照片

4.2 下圖為GEN3 CAF2+GPR系列(1000L)實物照片

金合博源,為您提供適用的CAF測試設備方案!??!
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