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探測(cè)器可謂是X熒光光譜儀的心臟部分了,而依分辨率高低檔次由低至高常用的探測(cè)器有NaI晶體閃爍計(jì)數(shù)器,充氣(He,Ne,Ar,Kr,Xe等)正比計(jì)數(shù)管器、HgI2晶體探測(cè)器、半導(dǎo)體致冷SiPIN探測(cè)器、高純硅晶體探測(cè)器、高純鍺晶體探測(cè)器、電致冷或液氮致冷Si(Li)鋰漂移硅晶體探測(cè)器、Ge(Li)鋰漂移鍺探測(cè)器等。
目前常用的是電致冷或液氮致冷Si(Li)鋰漂移硅晶體探測(cè)器、SiPIN探測(cè)器、高純硅晶體探測(cè)器。探測(cè)器的性能主要體現(xiàn)在對(duì)熒光探測(cè)的檢出限、分辨率、探測(cè)能量范圍的大小等方面。
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