鉑瑞達(dá)（北京）科技有限公司
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閱讀：21發(fā)布時(shí)間：2026-2-20
測(cè)量合金晶粒度為何如此重要
在許多行業(yè)，金屬合金是構(gòu)成各種產(chǎn)品的重要材料。當(dāng)前使用的標(biāo)準(zhǔn)合金多達(dá)數(shù)千種，而為了滿足新的需求，每天都在不斷開發(fā)性能更出眾的新型合金。例如，汽車、卡車、飛機(jī)和火車在制造過程中會(huì)使用多種鋼合金和鋁合金。
長(zhǎng)期以來，大家都知道隨著晶粒度的增大，合金的 :
l 抗張強(qiáng)度 (Rm) 和屈服強(qiáng)度 (Re) 將減小;
l 斷裂延伸率 (A%) 將增大;
l 韌脆轉(zhuǎn)變溫度將增大。
應(yīng)變 (ε) [%]
此處列舉典型鋼合金的應(yīng)力-應(yīng)變曲線。鋼平均晶粒度從曲線 1 增加到 3 (如箭頭指示)。隨著晶粒度變大，屈服強(qiáng)度 (Re) 和抗張強(qiáng)度 (Rm) 減小，斷口延伸率 (A%) 增大。
來源：來自羅馬大學(xué)的 M. Cavallini 以及來自卡西諾和南拉齊奧大學(xué)的 V. Di Cocco 和 F.Iacoviello [1]。
徠卡顯微系統(tǒng)的
LAS X Grain Expert（晶粒度專家） 軟件
徠卡顯微鏡使用 LAS X Grain Expert 軟件提供實(shí)用、準(zhǔn)確且可再現(xiàn)的晶粒度和微觀結(jié)構(gòu)分析解決方案。晶粒度使用自動(dòng)應(yīng)用的傳統(tǒng)方法或高級(jí)數(shù)字方法進(jìn)行分析。分析方法符合各種國際及國家標(biāo)準(zhǔn)。
LAS X Grain Expert 的優(yōu)勢(shì)：工作流程簡(jiǎn)明，報(bào)告可定制
Leica Grain Expert 提供全面的材料研究和冶金學(xué)晶粒度分析技術(shù)。用戶可以確信分析過程符合不同的實(shí)驗(yàn)室要求。Leica Grain Expert 涵蓋面向金相學(xué)晶粒尺寸分析的多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)，如ASTM E112、 DIN/EN/ISO 643、GOST 5639和JIS G0551。
其采用的圖像處理技術(shù)，可自動(dòng)增強(qiáng)和準(zhǔn)確檢測(cè)晶界。操作員始終可修改和確認(rèn)發(fā)現(xiàn)的結(jié)果。分析結(jié)果可用于驗(yàn)證材料是否符合買家與制造商確定的技術(shù)規(guī)范，識(shí)別制造過程中的變動(dòng)，并提供材料結(jié)構(gòu)和屬性的研究數(shù)據(jù)。
Grain Expert 軟件簡(jiǎn)單易學(xué)。LAS X Grain Expert可幫助用戶選擇最合適的高效晶界檢測(cè)算法。只需選擇與樣品最相似的示例圖像，便可應(yīng)用正確的分析算法。
在晶界檢測(cè)之前，可使用附帶的圖像分析模塊進(jìn)行二進(jìn)制或圖像處理。這些技術(shù)常用于晶界模糊的情形，以便更好地呈現(xiàn)晶界并應(yīng)用算法。即使腐蝕效果不佳，也不會(huì)降低分析質(zhì)量。針對(duì)質(zhì)量控制和研發(fā)目的，還可定制基于 Excel 的報(bào)告模板。
使用 Leica Grain Expert 軟件
實(shí)現(xiàn)詳盡的晶粒度分析
LAS X Grain Expert 軟件能夠用 G (晶粒度號(hào)) 表示平均晶粒度，并計(jì)算:
· 晶粒度號(hào)分布、平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差和 其他統(tǒng)計(jì)值;
· 平均晶粒面積;
· 和最小晶粒度;
· 置信水平 (p 值);
· 結(jié)果的相對(duì)準(zhǔn)確度。
關(guān)于使用 Leica LAS X Grain Expert 軟件進(jìn)行晶粒度分析的示例請(qǐng)參見右側(cè)的表格以及下面的圖表。
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