可控硅現(xiàn)在應用廣泛，應用領(lǐng)域有：固態(tài)繼電器、功率調(diào)節(jié)器、晶閘管調(diào)壓器、晶閘管模塊、力矩電機控制器、整流調(diào)壓器等，下面讓合泉小編和大家一起來談談如何用的方法測量可控硅。

可控硅模塊

用萬用表判斷時可控硅的好壞時，先將萬用表的兩個表筆連接到可控硅兩個端面，電阻應無限大(探頭基本不移動)，然后再將表筆轉(zhuǎn)另一個方向。如果這兩個步驟中電阻很小，則代表可控電路損壞。

進行以下測量：將黑筆(儀表內(nèi)的蓄電池正極)連接到控制極(中間引線輸出)，并將紅色筆(表中的蓄電池)連接到陽極(遠離控制桿遠的端面)。在這個時候，應該有很大的阻力。然后反向測量筆，電阻值仍應較大(指針基本不動)。

然后將黑色筆(儀表中的電池+)連接到控制極(中間導線)，將紅色筆(儀表中的電池-)連接到陰極(靠近控制極的一端(中間導線)。這時，應該有幾十到幾百歐姆的電阻。然后反向測量筆，電阻值應略大于上次測量值(差異可能不明顯)。如果測試結(jié)果如上所述，則可控硅良好，否則可控硅損壞。