用于紫外輻照度測量工作的設(shè)備該儀器適用于光化學(xué)、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。主要性能和技術(shù)指標(biāo)*波長范圍及峰值波長:（1）UV365探頭：λ：320~400nm;λp=365nm（2）UV420探頭：λ：320~500nm;λp=420nm*輻照度測量范圍：0.1~1.999×10^5μw/cm2*紫外帶外區(qū)雜光：UV365:小于0.02%；UV420:小于0.02%*余弦特性：符合國家二級光照度計(jì)標(biāo)準(zhǔn)*準(zhǔn)確度：±5%（相對于國家標(biāo)準(zhǔn)）*響應(yīng)時間：1秒*使用環(huán)境：溫度20±20℃；濕度*尺寸和重量：180×80×36mm3;0.2kg詳情>>
紫外照度計(jì)價(jià)格
