低溫冷凍試驗(yàn)箱適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫交變濕熱環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)；是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐寒、耐熱、耐濕、耐干性試驗(yàn)及品管工程的可靠性測試設(shè)備；特別適用于光纖、LCD、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、耐潮濕循環(huán)試驗(yàn)。低溫冷凍試驗(yàn)箱驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)1、GB2423.1—89《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法；2、GB2423.2—89《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法；3、GB2423.3－93《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法。低溫冷凍試驗(yàn)詳情>>
低溫冷凍試驗(yàn)箱價(jià)格
