美國(guó)500M SMD離子污染測(cè)試儀  測(cè)試儀500M SMD離子污染

品牌/型號(hào)：SCS/Ionograph 500M SMD

類(lèi)型：數(shù)字式電阻測(cè)量?jī)x表

重量：150（kg）

美國(guó)SCS Ionograph 500M SMD 離子污染測(cè)試儀，離子交換柱如需更詳細(xì)資料或報(bào)價(jià)請(qǐng)資詢(xún)美國(guó)SCS Ionograph 500M SMD 離子污染測(cè)試儀Ionograph 500M采用動(dòng)態(tài)測(cè)試方式。在腔體萃取溶液流過(guò)部件來(lái)溶解污染物，然后流入管路，溶液通過(guò)探頭，由探頭連續(xù)采集萃取溶液的電阻率，數(shù)據(jù)由計(jì)算機(jī)中運(yùn)行的軟件進(jìn)行積分，其后溶液由泵，泵入離子交換柱進(jìn)行凈化，zui后再流回測(cè)試腔體，實(shí)現(xiàn)萃取溶液的循環(huán)。萃取溶液可以比靜態(tài)溶液實(shí)現(xiàn)更高的溶解性和離子化，因?yàn)闇y(cè)試后再循環(huán)的溶液是超凈的。污染物讀數(shù)的增量是一段時(shí)間的累加或集成。zui后的污染物數(shù)值與標(biāo)準(zhǔn)NaCl相比較而得出NaCl質(zhì)量/區(qū)域的數(shù)值。技術(shù)參數(shù)：

1.名稱(chēng)：Ionograph 500M2.廠牌：SPECIALTY COATING SYSTEMS3.電源：240V；50HZ；8AMPS單相4.型號(hào)（測(cè)試槽尺寸）.：Ionograph 500M SMD IV(26 ×

30、20 ×

26、18 × 20)Ionograph 500M SMD II (26 ×

30、20 ×

26、18 × 20)Ionograph 500M LP(14 × 20)Ionograph 500M STD(12 × 14)Ionograph 500M SP(6 × 6)5.儲(chǔ)液槽容量：Ionograph 500M SMD IV/ II 7 —12 GALIonograph 500M LP/STD/SP 5GAL/2.7/0.86.加熱能力：Ionograph 500M SMD IV/ II 113F/45 ° 符合工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)：MIL－STD —2000AIPC —TM —650ANSI/J —STD —001B 特點(diǎn)：1．采用電腦控制2．測(cè)試結(jié)果便于可存儲(chǔ)查閱3．維護(hù)簡(jiǎn)單 離子交換柱-美國(guó)SCS OMEGAMETER 600SMD配件FP-92-1000 D.I. 17" Column for Omega 600SMD美國(guó)*。離子污染測(cè)試儀常用耗材:1 75I/99I測(cè)試液 15 Gals of Testsolution 75I ( 5 gal/can) ( 3 can/kit)2離子交換樹(shù)脂3打印機(jī)4鍵盤(pán)5打印色帶6打印紙7主板8打印轉(zhuǎn)換卡9泵浦10打印控制卡11顯示屏12電磁閥13按鍵14探頭15 #3標(biāo)準(zhǔn)液 SCS離子污染測(cè)試儀離子污染檢測(cè)儀離子交換柱 品牌：SCS型號(hào)：Omegameter600SMD Ionograph500MSMDⅡ產(chǎn)地：美國(guó)500M采用 動(dòng)態(tài)測(cè)試 方法；600SDMD采用 靜態(tài)測(cè)試 方法。

供應(yīng)配件：離子交換柱，離子污染測(cè)試儀主板，離子污染測(cè)試儀探頭，NaCl化學(xué)校正液，離子污染測(cè)試儀打印機(jī)組，離子污染測(cè)試儀用離子交換樹(shù)脂，離子污染測(cè)試儀用防爆型循環(huán)泵浦，離子污染測(cè)試測(cè)試液等。

Omegameter600SMD利用具有悠久歷史的工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的 靜態(tài)測(cè)試 方法可以對(duì)PCB和組裝電路板進(jìn)行測(cè)試。此設(shè)備可以進(jìn)行加熱、萃取溶液擾動(dòng)，可以去除并準(zhǔn)確測(cè)量從電路板制造和電路板組裝兩個(gè)不同方面產(chǎn)生的工業(yè)殘余的污染結(jié)果。

600 SMD型作為高效和典型的質(zhì)量保證工具，可以適應(yīng)廣泛的商業(yè)應(yīng)用；系統(tǒng)提供準(zhǔn)確、可重復(fù)及迅速確定清潔度的方法；符合MIL-STD-2000A、IPC-TM-650和ANSI/J-STD-001B工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。

Ionograph500M系列動(dòng)態(tài)離子污染測(cè)試儀（動(dòng)態(tài)測(cè)試方法） 500M SMD II離子污染檢測(cè)儀是一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)模塊化、低成本儀器設(shè)計(jì)用于離子污染檢測(cè)和其相關(guān)的過(guò)程控制。其通過(guò)運(yùn)行于PC的PowerView2003軟件控制，模塊使用異丙醇/D.I水作為萃取介質(zhì)，采用動(dòng)態(tài)測(cè)量方法對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行快速無(wú)損的測(cè)試。

500M SMD II能夠測(cè)量被引入的電子元件和電路板的質(zhì)量，評(píng)估助焊劑污染及監(jiān)視表面清潔度，污染測(cè)試能夠用于免清洗過(guò)程控制，控制裸板或組裝后的電路板的水或半水清洗過(guò)程，潔凈車(chē)間特殊產(chǎn)品的清潔度的檢測(cè)，如手套、工裝夾具、組裝工具及關(guān)鍵的組裝部件等。

離子污染測(cè)試儀OMEGAMETER 600SMD 美國(guó)SCS OMEGAMETER 600SMD 離子污染測(cè)試儀600SMD離子污染測(cè)試儀通過(guò)監(jiān)控混合液中所含離子的電阻大小從而得出所所含離子的數(shù)量。在測(cè)試的開(kāi)始時(shí)，系統(tǒng)的檢測(cè)器和記錄器會(huì)根據(jù)測(cè)試槽內(nèi)zui初的離子含量建立一個(gè)基準(zhǔn)數(shù)據(jù)，然后計(jì)算在測(cè)試的過(guò)程中增加的離子量，當(dāng)所有的離子溶解入測(cè)試液中時(shí)，就可達(dá)到一個(gè)平衡的數(shù)值。在測(cè)試通孔的板時(shí)，這些操作大約需要5-10分鐘，測(cè)試SMD的板時(shí)，大約需要30-45分鐘。測(cè)試結(jié)束后，zui后的離子含量水平，會(huì)編成一份微觀圖，包括NaCl/sq.inch 、測(cè)試的參數(shù)以及根據(jù)設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)是否合格情況，在進(jìn)行下一次測(cè)試之前，通過(guò)儀器內(nèi)的除離子系統(tǒng)清潔測(cè)試液，從而達(dá)到再生的功能，并且建立新的基準(zhǔn)水平。600SMD離子污染測(cè)試儀是*的儀器600SMD離子污染測(cè)試儀是一個(gè)功能齊全的微處理器控制儀器，采用非破壞式的測(cè)試方法，適合用于檢測(cè)印制線路板和相關(guān)部件的離子含量。根據(jù)測(cè)試液中電阻的變化來(lái)測(cè)試離子的含量。利用加熱測(cè)試液至大約120 °F并且結(jié)合了噴水器的沖刷，從而更有效的提高了清潔度，對(duì)于高密度的SMT產(chǎn)品可以達(dá)到90%--95%的清潔度。

OMEGA離子污染測(cè)試儀600SMD一．說(shuō)明：顯示提示------屏幕清楚的顯示操作者輸入的信息，并且提供繼續(xù)操作的提示給測(cè)試者，以做出不同的條件設(shè)定。系統(tǒng)打印機(jī)---------在測(cè)試進(jìn)行中，點(diǎn)陣打印機(jī)就會(huì)繪制一份離子含量曲線圖表，并且每十秒鐘數(shù)據(jù)點(diǎn)會(huì)標(biāo)識(shí)一次。檢測(cè)結(jié)束后，的離子含量水平、測(cè)試的參數(shù)以及所測(cè)樣品是否合格的情況都會(huì)打印出來(lái)。

2.：本公司專(zhuān)業(yè)維修及銷(xiāo)售各國(guó)離子污染測(cè)試儀。

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