方塊電阻測試儀 型號:TZ240-ST-21庫號：M397541   查看hh方塊電阻測試儀是測量半導(dǎo)體薄層電阻(表面電阻)的儀器，可用于測量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜等同類物質(zhì)的薄層電阻。該儀器以集成電路為；用基準(zhǔn)電源和運算放大器組成穩(wěn)流源；帶回路正常指示電路；并配以LCD顯示讀數(shù)。特點1采用集成電路作為儀器的主要部分；2以LCD顯示讀數(shù)；3采用單個電池供電，帶電池欠壓指示；4體積≤175mm X90mm X42mm，重量≤300g；5手握式探筆，球形探針、鍍金探針接觸被測材料及保護薄膜6探頭帶抗靜電模塊指標(biāo)測量范圍按方塊電阻量值大小分為二個量程檔：1.方塊電阻 1.00～199.99Ω/□；2.方塊電阻 10.0～1999.9Ω/□；分辨率：0.01Ω/□恒流源測量過程：≤±0.8%模數(shù)轉(zhuǎn)換器量程：0～199.99mv；分辨率：10μv；方式：LCD顯示；過量程均自動顯示；小數(shù)點同步顯示；測量不確定度在整個量程范圍內(nèi)，測量不確定度≤5%四探針探頭規(guī)格間距：1mm、1.59mm、3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ電源9V疊層電池1節(jié)