鍍膜厚度的縱向、橫向均勻度是鍍膜制品重要質(zhì)量和技術(shù)指標。鍍膜產(chǎn)品的光密度（ 光密度= LOG（1/透過率））和鍍層厚度成正比例關(guān)系，鍍層厚度越厚，光密度值越大，透過率越低。所以通過測量鍍膜產(chǎn)品的光密度可以監(jiān)控鍍膜層的厚度。

真空鍍膜在線鍍層厚度檢測裝置，適用于各類鍍膜生產(chǎn)線上，通過選擇監(jiān)控產(chǎn)品的可見光透過率，紅外線透過率和光密度值（OD），來達到在線檢測和分析產(chǎn)品鍍層厚度，鍍層厚度的均勻性等性能是否在工藝要求之內(nèi)。以便操作人員及時了解產(chǎn)品質(zhì)量，如有問題，及早發(fā)現(xiàn)及調(diào)整工藝，提高產(chǎn)品品質(zhì)，降低產(chǎn)品的廢品率。

此儀器提供雙路的RS485通訊接口，標準的MODBUS通訊協(xié)議，方便和PLC，單片機，人機界面，電腦等通訊。鍍膜機可以直接讀取此設(shè)備的光密度數(shù)據(jù)，實現(xiàn)控制自動化（閉環(huán)控制）。

一：真空鍍膜在線測厚儀的參數(shù)

1.測試波長：根據(jù)客戶需要選擇，目前有如下的選擇：

l 紅外線：850 nm（默認選項，抗*力強）

l 可見光：白光 380nm-760nm

l 綠光：  530nm

2.透過率測量精度：優(yōu)于±1%

3.透過率分辨率：0.005%；    

4.光密度測量范圍：0.00OD --- 5.00 OD

5.光密度的分辨率：

 0.01  for  0.00 - 3.00 OD

0.05  for  3.00 - 5.00 OD

6.zui大測量點數(shù)：36點

7.相鄰探測頭之間距離：zui小70mm

8.發(fā)送接收探頭之間距離：20mm

9.溫度范圍： -20°C --- +70°C

10.數(shù)據(jù)刷新周期：300ms

11.儀器整體尺寸： 100mm（寬）*230mm（高）* 長度(根據(jù)客戶要求定制)

12.需真空法蘭電極芯數(shù)：6根（不配電腦監(jiān)控），9根（配電腦監(jiān)控）

13.電源：220VAC/50Hz

14.通訊：雙路RS485

二：真空鍍膜在線測厚儀的特點

1. 一體化設(shè)計，結(jié)構(gòu)簡單，現(xiàn)場安裝維護方便

2. 防塵設(shè)計

對于鍍膜過程中的粉塵（如鍍鋁過程）會影響測量光學(xué)系統(tǒng)，該系統(tǒng)采用防塵設(shè)計，粉塵不會影響光學(xué)系統(tǒng)內(nèi)部。如有粉塵，只需要定期擦拭清潔光學(xué)系統(tǒng)的鏡頭玻璃即可，方便維護。

3. 真空室的電子設(shè)計

   真空環(huán)境中，和大氣環(huán)境下有眾多的區(qū)別，經(jīng)過多次真空試驗和現(xiàn)場應(yīng)用，成功解決真空中電子器件的穩(wěn)定性問題。

三：真空鍍膜在線測厚儀的組成

1：設(shè)備分為三部分：探測系統(tǒng)、人機交互設(shè)備、電腦實時監(jiān)控系統(tǒng)。

l  探測系統(tǒng)

主要包括光源，接收器，控制器和支架（測試點的多少，根據(jù)用戶要求定制，測試點數(shù)一般是3的整數(shù)倍，如3、6、9、12、15等）。    

l  人機交互設(shè)備

 7寸LCD人機交互界面，顯示各個測試點的透過率和光密度數(shù)據(jù)。實時數(shù)據(jù)，柱狀圖顯示方式，上下限，基準值設(shè)置及顯示。

l  電腦實時監(jiān)控系統(tǒng)（選配）

所有測試點數(shù)據(jù)的實時監(jiān)控。包含實時顯示、柱狀圖、上下閾值設(shè)定、實時曲線，越限報警等。透光率與光密度的顯示可自由切換。

歷史數(shù)據(jù)存儲，分析和報表功能。整卷膜在其對應(yīng)長度上，都有數(shù)據(jù)記錄和分析。如果已知鍍膜機的運行速度，可以出報表分析整卷膜在對應(yīng)長度的光學(xué)指標，做到整卷膜鍍層厚度和均勻性可追溯。

2：真空鍍膜在線測厚儀示意圖。

    此設(shè)備可以實現(xiàn)和PC，人機界面，PLC，單片機，鍍膜機控系統(tǒng)通訊，實現(xiàn)監(jiān)視和控制。