功能特點：布魯克紅外原子力顯微鏡 Inspire

分辨率的納米級化學(xué)和性質(zhì)成像

◆Bruker’s Inspire系統(tǒng)在常規(guī)AFM成像速度下可獲得納米級的紅外吸收和反射圖像，不受間接手工操作的逼近的限制，或為用戶增加使用的繁瑣。該系統(tǒng)實時地將原子級的納米力學(xué)成像與分辨率達(dá)10納米的紅外sSNOM 時空光譜成像以及的納米電學(xué)測量相關(guān)聯(lián)，簡而言之，Inspire重新定義了原子力顯微鏡的應(yīng)用。

Inspire 的出現(xiàn)，*次將分辨率納米尺度下的化學(xué)和性質(zhì)成像與的AFM技術(shù)和的AFM性能結(jié)合:

◆采用直接光學(xué)逼近方法獲得分辨率的納米化學(xué)性質(zhì)表征和等離子基元效應(yīng)

◆布魯克公司*的PeakForce Tapping技術(shù)可提供較為精準(zhǔn)的定量納米機(jī)械性質(zhì)的成像

◆全新的PeakForce IR技術(shù)可以實現(xiàn)以往技術(shù)難以實現(xiàn)的納米化學(xué)性質(zhì)的成像

◆利用ScanAsyst自動優(yōu)化圖像和集成的sSNOM光學(xué)系統(tǒng)可快速的獲得數(shù)據(jù)

的成像技術(shù)——操作簡單

◆Inspire 使用sSNOM直接光學(xué)的反射和吸收成像以獲得的空間分辨率和靈敏度的納米化學(xué)信息。以往需多年的專業(yè)技術(shù)和數(shù)周的搭建時間獲得的實驗數(shù)據(jù)，Inspire的集成光學(xué)系統(tǒng)可以更快更簡單的實現(xiàn)。PeakForce Tapping（峰值力輕敲）技術(shù)及智能成像模式保證了即使是初學(xué)者也可以在幾分鐘之內(nèi)獲得專家級的AFM成像質(zhì)量。

技術(shù)參數(shù)：布魯克紅外原子力顯微鏡 Inspire

光路系統(tǒng)

◆集成紅外散射SNOM系統(tǒng):

◆包含必需的光學(xué)器件, 激光和檢測器;

◆高質(zhì)量的寬頻光學(xué)元件;

◆低噪音, 液氮冷卻的探測器;

◆精確的干涉儀控制系統(tǒng);

◆低噪聲量子級聯(lián)激光器光源;

◆優(yōu)化的近場采集和激發(fā)光路

AFM掃描頭

◆可支持應(yīng)用模塊的AFM掃描頭(可支持所有選擇模式)

掃描器

◆125μm x 125μm (X-Y) x 5μm( Z range);  可以根據(jù)需求選擇其他掃描器

控制器

◆NanoScopeV 控制臺, 配v9.0 Nanoscope實時控制軟件;

◆NanoScope v1.5 分析軟件;

◆Windows 7 操作系統(tǒng)

模式 :

掃描探針紅外模式:

◆IR sSNOM 在 TappingMode and PeakForce IR模式下運行

常規(guī)成像模式:

◆智能成像模式

◆峰值力輕敲模式

◆輕敲模式

◆接觸模式

◆扭轉(zhuǎn)共振模式

◆掃描隧道顯微鏡

◆摩擦力顯微鏡

◆相位成像

可選擇的材料表征模式:

◆PeakForce KPFM——納米級熱分析

◆導(dǎo)電原子力顯微鏡——液態(tài)成像

◆PeakForce TUNA——電化學(xué)原子力顯微鏡

◆PeakForce QNM——納米壓痕

◆PeakForce Capture——壓電力顯微鏡

◆力曲線陣列 ——電場力和磁力顯微鏡