一、核心性能參數(shù)

1. 頻率范圍：20Hz～2MHz，全頻段 4 位頻率分辨率，可自定義掃頻列表，列表掃描支持 201 個(gè)頻點(diǎn)Keysight。

2. 測(cè)量精度：基礎(chǔ)阻抗精度 ±0.05%，高低阻抗區(qū)間均實(shí)現(xiàn)低噪聲測(cè)量，保證小容量電容、大電感、低阻元件測(cè)試重復(fù)性是德科技。

3. 測(cè)試信號(hào)：交流測(cè)試信號(hào) 100μV～2Vrms，測(cè)試電流 1μA?20mA；具備自動(dòng)電平控制 ALC，可恒壓、恒流模式測(cè)試器件。

4. 測(cè)量速度：三檔速度可選，快速模式 5.6ms，中速 88ms，長(zhǎng)模式 220ms，兼顧產(chǎn)線吞吐和高精度測(cè)量場(chǎng)景是德科技。

5. 測(cè)量參數(shù)：支持 L、C、R、G、D、Q、Z、θ、X、Y、B 等 16 項(xiàng)阻抗參數(shù)，可同時(shí)顯示兩組測(cè)量結(jié)果Keysight。

6. 測(cè)量架構(gòu)：四端對(duì)（4TP）測(cè)量方式，降低引線阻抗與寄生干擾，適配貼片、引腳類元器件測(cè)試。

二、主要功能特點(diǎn)

1. 誤差補(bǔ)償功能內(nèi)置開路、短路、負(fù)載補(bǔ)償，消除夾具、線纜帶來(lái)的寄生參數(shù)誤差；支持 1m/2m/4m 延長(zhǎng)線纜，可把夾具放置高低溫箱內(nèi)做溫循測(cè)試，長(zhǎng)距離依舊保障指標(biāo)是德科技。

2. 選件擴(kuò)展能力

• 選件 001：增強(qiáng)直流偏置源，±40V/100mA 直流偏置，可測(cè)壓敏電容、半導(dǎo)體器件，20Vrms 交流激勵(lì)，同步采集直流電壓、漏電流參數(shù)Keysight。

• 選件 200：直流電阻 Rdc 測(cè)量，完成元件交直流電阻一體化測(cè)試。

• 選件 301：多路掃描通道補(bǔ)償，搭配掃描儀實(shí)現(xiàn)多工位自動(dòng)化測(cè)試。

3. 產(chǎn)線分選功能內(nèi)置比較器，支持最多 10 檔 BIN 分選，可設(shè)置上下限閾值，儀器直接輸出合格 / 不合格判定信號(hào)，對(duì)接機(jī)械手、分選機(jī)，適合元器件批量檢測(cè)。

4. 接口與存儲(chǔ)標(biāo)配 GPIB、LAN、USB 接口，方便程控自動(dòng)化；前面板 USB 口支持 U 盤保存儀器配置、測(cè)試日志數(shù)據(jù)，可快速調(diào)取測(cè)試設(shè)置。操作界面為彩色 LCD 屏幕，同時(shí)展示多組參數(shù)，操作便捷Keysight。

5. 豐富夾具適配兼容二十余種專用測(cè)試夾具，覆蓋 SMD 貼片、插件元件、磁環(huán)、片式材料、半導(dǎo)體樣品，可完成介電常數(shù)、磁導(dǎo)率等材料特性評(píng)估，搭配 N1500A 材料測(cè)試套件，簡(jiǎn)化材料測(cè)試流程與報(bào)告輸出Keysight。

三、典型應(yīng)用場(chǎng)景

1. 元器件研發(fā)驗(yàn)證：電容、電感、電阻、磁件、變壓器的阻抗?頻率特性、D/Q 值分析；評(píng)估元件電壓、直流偏置特性。

2. 來(lái)料檢驗(yàn)與品質(zhì)管控：電子元器件入庫(kù)抽檢，篩選不良品。

3. 材料測(cè)試：介質(zhì)材料、鐵磁材料，測(cè)試介電常數(shù)、損耗因子、磁導(dǎo)率。

4. 半導(dǎo)體行業(yè)：MLCC 陶瓷電容偏壓特性、壓敏器件、無(wú)源芯片器件評(píng)估。

5. 自動(dòng)化產(chǎn)線：配合機(jī)械手、分選機(jī)完成大批量元器件高速檢測(cè)。

四、儀器優(yōu)勢(shì)

    E4980A 作為行業(yè)主流精密 LCR 設(shè)備，平衡高精度與測(cè)試速度，高低阻抗段均有穩(wěn)定表現(xiàn)，長(zhǎng)電纜測(cè)試性能優(yōu)異，選件靈活擴(kuò)展，既適合實(shí)驗(yàn)室研發(fā)，也適配工廠自動(dòng)化測(cè)試，可替代傳統(tǒng) 4284A 完成大部分無(wú)源器件測(cè)量任務(wù)。