供應(yīng)Keithley 2601B System SourceMeter源測量單元，適用于半導(dǎo)體器件測試、電子元器件測試、LED及光電器件測試、研發(fā)實驗室、材料研究、生產(chǎn)測試及自動化測試系統(tǒng)。2601B將精密電壓源、精密電流源、電壓測量、電流測量、6?位數(shù)字萬用表、任意波形功能、脈沖功能以及電子負載等測試能力集成于一臺設(shè)備中，可以同時完成信號輸出和參數(shù)測量，減少傳統(tǒng)測試系統(tǒng)中電源、萬用表及電子負載等設(shè)備的組合數(shù)量。Keithley 2601B為單通道四象限SourceMeter源測量單元，支持電壓源、電流源以及電壓、電流測量功能，可根據(jù)被測器件的不同測試需求進行Source/Measure操作。設(shè)備電壓源及測量范圍可達到40V，直流電流源及測量范圍達到3A，同時具備10A脈沖能力；電流測量分辨率可達到100fA，電壓測量分辨率可達到100nV，輸出功率為40W DC、200W脈沖，基本測量準確度可達到0.015%，適合需要較寬動態(tài)范圍和精密測量能力的電子測試項目。在半導(dǎo)體器件測試方面，2601B可以用于二極管、LED、晶體管、FET、MOSFET以及其他電子器件的I-V特性測試，通過設(shè)定不同的電壓或電流輸出條件，同時采集對應(yīng)的電壓、電流數(shù)據(jù)，可以分析器件的正向特性、反向特性、導(dǎo)通特性、漏電流以及不同工作條件下的電氣參數(shù)。對于研發(fā)階段的器件參數(shù)驗證、樣品篩選和性能對比，也可以利用SourceMeter的源測量功能建立自動化測試流程。在LED、光電器件及電子元器件測試中，2601B可以作為精密電流源或電壓源使用，并同步測量被測器件的電壓、電流變化。適用于LED正向電壓測試、工作電流測試、器件功率測試、二極管參數(shù)測試以及其他需要穩(wěn)定電流或電壓激勵的測試項目。對于實驗室研發(fā)、工程驗證和小批量生產(chǎn)測試，可以根據(jù)實際測試要求配置測試夾具和連接附件。2601B采用四象限輸出結(jié)構(gòu)，在不同工作模式下既可以向被測器件提供電壓或電流，也可以吸收電流，因此特別適合需要源和負載雙向工作的器件測試。設(shè)備還支持高速測試和自動化測試，可用于多個測試步驟連續(xù)執(zhí)行、測試數(shù)據(jù)采集、參數(shù)判斷以及測試結(jié)果記錄。在自動化測試方面，2601B具備TSP Test Script Processor測試腳本處理技術(shù)，可以將測試程序直接運行在儀器內(nèi)部，減少電腦與儀器之間頻繁的數(shù)據(jù)通信。設(shè)備同時支持TSP-Link擴展技術(shù)，可用于多臺SMU組成測試系統(tǒng)，實現(xiàn)多通道并行測試。根據(jù)具體配置和系統(tǒng)需求，還可以通過USB、LAN/LXI、GPIB、RS-232及數(shù)字I/O等接口與電腦、測試平臺及其他儀器進行通信。2601B適用于半導(dǎo)體研發(fā)、電子元器件研發(fā)、LED測試、光電器件測試、材料電學測試、晶體管測試、FET測試、二極管測試、I-V曲線測試、漏電流測試、器件篩選、可靠性驗證以及自動化生產(chǎn)測試。對于需要同時完成電壓或電流激勵和精密測量的測試系統(tǒng)，2601B可以作為核心SourceMeter設(shè)備使用。供應(yīng)二手Keithley 2601B時，可根據(jù)實際設(shè)備提供外觀照片、銘牌信息、設(shè)備配置、接口情況、附件情況及開機測試狀態(tài)。不同庫存設(shè)備的成色、使用情況、附件和配置可能存在差異，具體以實際現(xiàn)貨設(shè)備為準?？筛鶕?jù)客戶測試對象、所需電壓電流范圍、測試精度、通信方式以及預(yù)算匹配合適設(shè)備。

如果采購設(shè)備主要用于半導(dǎo)體器件I-V測試、LED測試、二極管測試、晶體管測試、FET測試、漏電流測試、低電流測量、電子元器件研發(fā)或者自動化測試，可以根據(jù)具體測試需求選擇2601B及其他SourceMeter型號。除2601B外，也可提供Keithley系列源測量單元、數(shù)字源表、精密電源、電子負載、數(shù)字萬用表以及其他電子測試儀器，支持單臺采購、批量采購和測試系統(tǒng)配套。