一、產(chǎn)品簡介

光譜測(cè)金儀是一款基于能量色散型 X 射線熒光技術(shù)的光譜分析儀，專為黃金、K金等貴金屬首飾成分檢測(cè)而設(shè)計(jì)。該儀器集無損檢測(cè)、快速響應(yīng)、高精度分析與智能化操作于一體，操作簡單能夠在60秒獲得結(jié)果。

二、應(yīng)用范圍

光譜測(cè)金儀可廣泛的應(yīng)用于黃金回購、珠寶零售、典當(dāng)質(zhì)檢、院校珠寶專業(yè)、珠寶教育培訓(xùn)等行業(yè)。

三、產(chǎn)品特點(diǎn)

1.一體機(jī)設(shè)計(jì)

整機(jī)采用高度集成的一體化設(shè)計(jì)理念，設(shè)備與高清顯示屏無縫融合，摒棄繁瑣的外接線路與分體結(jié)構(gòu)。不僅大幅簡化操作流程、提升工作效率，更以緊湊的布局釋放客戶寶貴的檢測(cè)空間。

2. 免校準(zhǔn)設(shè)計(jì)

儀器出廠前已完成精密校準(zhǔn)，并固化核心參數(shù)，日常使用中無需借助銀銅合金標(biāo)準(zhǔn)樣件進(jìn)行重復(fù)校準(zhǔn)。真正實(shí)現(xiàn)“開箱即用”，告別繁瑣的校準(zhǔn)步驟，為用戶節(jié)省大量時(shí)間與精力。

3. 多重安全防護(hù)，智能提醒

構(gòu)建全-方-位安全防護(hù)體系，時(shí)刻守護(hù)操作人員與設(shè)備安全：

高壓運(yùn)行視覺警示：當(dāng)X射線管處于工作高壓狀態(tài)時(shí)，屏幕警示燈閃爍，有效防止誤開艙蓋；

開蓋瞬時(shí)斷高壓保護(hù)：一旦檢測(cè)蓋被意外開啟，系統(tǒng)自動(dòng)切斷高壓，實(shí)現(xiàn)零延遲斷高壓，確保每一次操作都萬-無-一-失。

4. 無損檢測(cè)技術(shù)

基于X射線熒光（XRF）分析原理，利用X射線激發(fā)樣品內(nèi)部原子產(chǎn)生特征熒光，從而獲取成分信息。整個(gè)檢測(cè)過程對(duì)樣品進(jìn)行非破壞性檢測(cè)，完好保留樣品原始狀態(tài)。珍貴的貴金屬首飾可完好如初地回歸用戶手中，真正實(shí)現(xiàn)“檢測(cè)無損”。

5. 多元素同步分析

具備多元素同時(shí)檢測(cè)能力，覆蓋金、銀、銅、鋅、鎳、銦、鈷、鈀、鉑、錸、鎢、鎘、銠、鐵、鉛、錫、錳、鉻、釕、鋨等多達(dá)72種元素的快速定性與定量分析，其中常規(guī)可測(cè)元素在21種。

6. 高清可視化監(jiān)控

內(nèi)置超清攝像頭與高亮LED照明系統(tǒng)，構(gòu)建明亮清晰的檢測(cè)視野。樣品放置后，實(shí)時(shí)畫面同步呈現(xiàn)在屏幕之上，測(cè)試全程樣品狀態(tài)盡收眼底。有效避免因樣品放置不當(dāng)導(dǎo)致的測(cè)試偏差，大幅提升操作準(zhǔn)確性，讓檢測(cè)過程透明可信。

7. 動(dòng)態(tài)實(shí)時(shí)軟件顯示

配套智能分析軟件，實(shí)時(shí)更新檢測(cè)數(shù)據(jù)：元素成分百分比隨測(cè)試進(jìn)程動(dòng)態(tài)變化，黃金K值同步計(jì)算并即時(shí)呈現(xiàn)。無需等待最終報(bào)告，測(cè)試過程中便能直觀觀察含量趨勢(shì)。

8. 超高檢測(cè)精度

能夠精準(zhǔn)區(qū)分99.99%（萬足金）與99.9%（千足金）之間僅0.09%的細(xì)微純度差異。適用于貴金屬交易、質(zhì)檢機(jī)構(gòu)等高要求場(chǎng)景，為每一份純度結(jié)論提供堅(jiān)實(shí)的數(shù)據(jù)支撐。

9. 智能曲線匹配

搭載智能算法，可自動(dòng)識(shí)別金、銀、鉑、鈀等常見貴金屬基體，并智能調(diào)取對(duì)應(yīng)的校準(zhǔn)曲線。整個(gè)過程無需用戶手動(dòng)選擇分析模型或切換曲線，徹-底消除因選錯(cuò)曲線導(dǎo)致的結(jié)果偏差。

10. 軟件開機(jī)自啟

儀器開機(jī)后，操作系統(tǒng)自動(dòng)加載并啟動(dòng)配套分析軟件，無需用戶進(jìn)行任何點(diǎn)擊或手動(dòng)啟動(dòng)操作。從按下電源到進(jìn)入檢測(cè)界面，全程自動(dòng)化流轉(zhuǎn)，減少誤操作可能。

11. 快捷操作

機(jī)身外置快捷鍵按鈕，集啟動(dòng)/停止檢測(cè)等操作為一體。輕按一下，即可觸發(fā)對(duì)應(yīng)功能，全程無需觸碰屏幕或操作鼠標(biāo)，讓檢測(cè)流程更加簡潔、高效、從容。

12.垂直光路

相較于45°光路設(shè)計(jì)，垂直光路形成的光斑是圓形的而非橢圓形狀；在檢測(cè)凹面樣品時(shí)，檢測(cè)點(diǎn)和圖形中心點(diǎn)位一致。

四、技術(shù)參數(shù)