高壓防過溫HAST老化箱

產(chǎn)品詳情
本設(shè)備專為半導體、PCB、電子模塊及封裝器件設(shè)計，采用高壓、高濕、高溫加速老化測試方案，創(chuàng)新集成“防過溫”安全控制系統(tǒng)。箱體整體采用316L不銹鋼，配備多級壓力保護與溫度上限切斷機制，能在121℃、100%RH、2個標準大氣壓條件下長期穩(wěn)定運行。設(shè)備支持不結(jié)露模式與結(jié)露模式切換，滿足JEDEC、IEC、MIL等國際測試標準，是電子元器件可靠性驗證的理想工具。

高壓防過溫HAST老化箱

用途
主要用于評估電子組件在濕熱高壓環(huán)境下的抗老化能力與失效模式，包括：IC芯片封裝密封性測試、PCB板層間耐壓評估、光伏組件耐候性檢驗、LED支架腐蝕性試驗、傳感器防潮能力驗證等。常用于質(zhì)量控制、失效分析、研發(fā)篩選及可靠性認證環(huán)節(jié)。

技術(shù)參數(shù)

• 溫度范圍：105℃～142℃

• 濕度范圍：75%～100% RH

• 壓力范圍：0.02～0.21 MPa（表壓）

• 溫度波動度：±0.5℃

• 濕度波動度：±3% RH

• 內(nèi)箱尺寸：350×400×450 mm（可定制）

• 電源：380V / 三相五線制

• 功率：5.5 kW

箱體結(jié)構(gòu)與材質(zhì)
外箱采用冷軋鋼板噴塑處理，耐腐蝕抗刮擦；內(nèi)箱及所有與蒸汽接觸部件均使用SUS316L不銹鋼，防止銅、鋅等有害離子析出。箱門配置硅膠防爆密封圈與機械式安全門鎖，頂部設(shè)有自動排氣閥及手動泄壓口。加熱系統(tǒng)位于箱底夾層，采用盤管式加熱器，獨立溫控探針遠離加熱源，避免局部過熱。

工作原理
通過電加熱方式將底部純凈水轉(zhuǎn)化為高溫飽和蒸汽，在密閉箱體內(nèi)形成高壓、高濕環(huán)境。微電腦控制器根據(jù)壓力傳感器與溫濕度探頭信號，實時調(diào)節(jié)加熱功率與進氣/排氣電磁閥，維持穩(wěn)定測試條件。防過溫功能由獨立于主控系統(tǒng)的機械式限溫器實現(xiàn)：當溫度超過設(shè)定上限（如145℃）時，直接切斷加熱回路，防止超溫導致的樣品損傷或設(shè)備損壞。

性能特點

• 精準防過溫：雙重溫控保護（軟件+機械）

• 不結(jié)露模式可選，避免冷凝水滴落污染樣品

• 自動補水與水位監(jiān)測，支持長時間連續(xù)運行

• 故障自診斷及聲光報警提示

• 可存儲10組常用測試配方，一鍵調(diào)用

技術(shù)優(yōu)勢
相比普通HAST設(shè)備，本機型核心優(yōu)勢在于“防過溫+高壓穩(wěn)定性”：機械式獨立限溫器杜絕軟件死機或探頭漂移導致的安全風險；內(nèi)箱全316L無銅設(shè)計，杜絕金屬遷移對微電路測試的干擾；支持飽和/非飽和兩種濕度模式，適用更廣泛的測試標準（如JESD22-A110、A118）。同時，排氣冷卻系統(tǒng)可在測試結(jié)束后快速降壓降溫，提升操作效率與安全性。