化學分析儀器FEI Apreo場發(fā)射掃描電子顯微鏡Apreo 復合透鏡結合了靜電和磁浸沒技術，可產(chǎn)生高分辨率和材料對比度。 

    Apreo 是研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的平臺，而不會降低磁性樣品性能。傳統(tǒng)的高分辨率 SEM 透鏡技術分為兩類：磁浸沒或靜電。FEI 將兩種技術結合到一個儀器中。兩種技術均使電子束形成細小探針，以提高低電壓下的分辨率，并使信號電子進入鏡筒。通過將磁透鏡和靜電透鏡組合成一個復合透鏡，不但提高了分辨率，還增加了信號過濾選項。靜電-磁復合末級透鏡在 1 kV 電壓下的分辨率為 1.0 nm（無電子束減速或單色器）。

化學分析儀器FEI Apreo場發(fā)射掃描電子顯微鏡主要優(yōu)勢 ：

• 復合末級透鏡可在任何樣品（甚至在傾斜時或形貌起伏大）上提供良好的分辨率（1 kV 電壓下為 1.0 nm），而無需進行電子束減速。 

• 背散射探測始終可保證良好的材料對比度
• 靈活的探測器可將各個探測器分割提供的信息相結合，讓用戶能夠獲得重要的對比或信號強度。

• 各種各樣的電荷緩解策略，包括倉室壓力為 500 Pa 的低真空模式，可實現(xiàn)任何樣品的成像。

• 分析平臺提供高電子束電流，而且束斑很小。倉室支持三個 EDS 探測器、共面的 EDS 和 EBSD 以及針對分析而優(yōu)化的低真空系統(tǒng)。

• 樣品處理和導航容易，具有多用途樣品支架和Nav-Cam+。

• 通過用戶指導、預設和撤消功能為新用戶提供結果。