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北京精科智創(chuàng)科技發(fā)展有限公司是一家主要是從事精密儀器設(shè)備，安全控制設(shè)備，計(jì)量檢測(cè)設(shè)備，科學(xué)研究設(shè)備，3D打印及空間技術(shù)的研發(fā)和銷售的高科技公司，我們將同國(guó)內(nèi)單位和高等院校合作，服務(wù)于國(guó)內(nèi)和國(guó)外廣大客戶，我們將提供*產(chǎn)品，優(yōu)質(zhì)服務(wù)，共同開(kāi)拓進(jìn)取。

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介在線詢價(jià)

JKZC-JDS04型材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng) JKZC-JDS04型材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng) 關(guān)鍵詞：介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗（tanδ）

JKZC-JDS04型材料介電常產(chǎn)品詳情

JKZC-JDS04型材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)

關(guān)鍵詞：介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗（tanδ），塊體，粉末

JKZC-JDS04型材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)是一款專用介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)由S916測(cè)試裝置（夾具）、高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動(dòng)測(cè)量控件、及LKI-1型電感器組成。依據(jù)國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標(biāo)ASTM D150以及國(guó)際電工委員會(huì)IEC60250的規(guī)定設(shè)計(jì)制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動(dòng)測(cè)量的解決方案。本儀器中測(cè)試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來(lái)夾被測(cè)樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過(guò)被測(cè)樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過(guò)公式計(jì)算得到。高頻Q表具有自動(dòng)計(jì)算介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗（tanδ）。

一 JKZC-JDS04型材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)本設(shè)備適用標(biāo)準(zhǔn)
1 GBT 1409-2006 測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(zhǎng)存內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法
2 GBT 1693-2007 硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)定方法
3 ASTM-D150-介電常數(shù)測(cè)試方法
4 GB9622.9-88/SJT 11043-1996 電子玻璃高頻介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的測(cè)試方法

二 JKZC-JDS04型材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)主要測(cè)試材料:
1 固體材料：絕緣導(dǎo)熱硅膠,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光學(xué)膠,環(huán)氧樹(shù)脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龍/滌綸,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA,大米,豬肉等 2 液體材料：去離子水,全氟聚醚,果汁,,甲醇,油類等

三 AS2855介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)系統(tǒng)組成：

1 主機(jī)：JKZC-JDS04型材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)主機(jī)

功能名稱：	JKZC-JDS04-A主機(jī)QBG-3E	JKZC-JDS04-B主機(jī)QBG-3F	AS2855-C主機(jī)AS2853A
信號(hào)源范圍DDS數(shù)字合成信號(hào)	20HZ-1MHz	10KHZ-/70MHZ/110MHz	100KHZ-160MHz
信號(hào)源頻率精度:6位有效數(shù)	3×10-5 ±1個(gè)字	3×10-5 ±1個(gè)字	3×10-5 ±1個(gè)字
Q測(cè)量范圍	1-1000自動(dòng)/手動(dòng)量程	1-1000自動(dòng)/手動(dòng)量程	1-1000自動(dòng)/手動(dòng)量程
Q分辨率	4位有效數(shù),分辨率0.1	4位有效數(shù),分辨率0.1	4位有效數(shù),分辨率0.1
Q測(cè)量工作誤差	<5%	<5%	<5%
電感測(cè)量范圍:4位有效數(shù),分辨率0.1nH	1nH-8.4H , 分辨率0.1nH	1nH-8.4H 分辨率0.1nH	1nH-140mH分辨率0.1nH
電感測(cè)量誤差	<5%	<5%	<5%
調(diào)諧電容	主電容30-540pF	主電容30-540pF	主電容17-240pF
電容直接測(cè)量范圍	1pF～2.5uF	1pF～2.5uF	1pF～25nF
調(diào)諧電容誤差分辨率	±1 pF或<1% 0.1pF	±1 pF或<1% 0.1pF	±1 pF或<1% 0.1pF
諧振點(diǎn)搜索	自動(dòng)掃描	自動(dòng)掃描	自動(dòng)掃描
LCD顯示參數(shù)	F，L，C，Q，Lt，Ct等	F，L，C，Q，Lt，Ct，Tn，Er等	F，L，C，Q，Lt，Ct， Tn，Er等
殘余電感自動(dòng)扣除功能	有	有	有
大電容值直接測(cè)量顯示功能	測(cè)量值可達(dá)2.5uF	測(cè)量值可達(dá)2.5uF	測(cè)量值可達(dá)25nF
介質(zhì)損耗系數(shù)	精度萬(wàn)分之一	精度萬(wàn)分之一	精度十萬(wàn)分之五
介電常數(shù)	精度千分之一	精度千分之一	精度千分之一
材料測(cè)試厚度	0.1mm-15mm	0.1mm-15mm	0.1mm-15mm
介電常數(shù)	自動(dòng)測(cè)試	自動(dòng)測(cè)試	自動(dòng)測(cè)試
USB接口			支持介電常數(shù)輸出以及產(chǎn)生曲線
介電常數(shù)		介質(zhì)損耗
USB接口上位機(jī)（介電常數(shù)曲線）
2介電常數(shù)εr和介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ測(cè)試裝置：
固體電極：材料測(cè)量直徑 Φ38mm/Φ6mm 可選；厚度可調(diào) ≥ 15mm （二選一）　　液體電極：測(cè)量極片直徑 Φ38mm；液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm（選配）

關(guān)鍵詞：電感器絕緣材料電容器標(biāo)準(zhǔn)

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產(chǎn)品名稱	參考價(jià)	地區(qū)	公司名稱	更新時(shí)間
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