1. 超聲波測厚儀功能

穿透涂層測量：部分型號（如JZ-TT900、GTJ-U150）具備回波-回波模式，可在不去除涂層的情況下直接測量基體厚度，適用于油氣田、石化設施等場景。

高精度測量：分辨率可達0.01mm，聲速范圍508-18699m/s，適用于金屬、塑料、陶瓷等多種材料。

高溫適應性：部分探頭支持-20℃至537℃的材料表面溫度測量（如JZ-TT900的高溫探頭）。

數(shù)據(jù)存儲與傳輸：支持USB或RS232接口連接電腦，部分型號（如DM4DL）可存儲5000+數(shù)據(jù)點并支持打印。

2. 機械接觸式測厚儀功能

自動化測量：如CHY-01全自動測厚儀，通過機械接觸式測量，自動升降探頭避免人為誤差，適用于薄膜、紙張等軟質材料，精度達±0.5μm。

統(tǒng)計分析：內置軟件可生成圖形化統(tǒng)計結果，支持實時顯示、自動計算平均值/極值，并配備微型打印機輸出數(shù)據(jù)。

3. 光學/激光測厚儀功能

非接觸測量：手持式光學薄膜測厚儀可測量透明/半透明薄膜的厚度（15nm-90μm）及光學常數(shù)（折射率n/k），適用于半導體、光學鍍膜等領域3。

便攜性：通過USB供電，無需實驗室環(huán)境，適合現(xiàn)場快速檢測。