Raims CIA 自動清潔度檢查軟件

Raims - Cleanliness Inspector and Analysis

1、 高整合的自動分析軟件 Automatic Analysis System

全面整合進口顯微鏡、進口數(shù)碼設(shè)備、進口XYZ-3軸電動掃描臺；項目化管理、流程化操作?？蓹z測零件清潔度、油液清潔度、鐵譜顆粒統(tǒng)計等。

2、 自動掃描樣品 Auto Scan，Support Multiple Scanning Area

支持多種掃描方式：矩形區(qū)域、圓形區(qū)域等；滿足各種應(yīng)用需要；同時可測量零件清潔度、油液清潔度、鐵譜分析等。提供專業(yè)夾具，使樣品更平整。

3、 多種自動聚焦算法 Multiple Automatic Focus Algorithm

支持多種聚焦模式：補償聚焦、跟蹤聚焦、手動聚焦、EFI聚焦等。采用新的聚焦算法，保證在試樣不夠平整的情況下也能得到清晰的圖像；

4、 自動拍照、視場自動定位 Automatic Camera and Field Position

采集過程自動拍照、照片自動保存，進度狀態(tài)實時可見；照片信息存入數(shù)據(jù)庫，方便查詢；

提供視場圖片瀏覽功能，可以實現(xiàn)視場定位回溯、重新拍照等功能。

5、 多種檢測標準 Multi Testing Standard

支持多種國際國內(nèi)標準，包括ISO16232、ISO4406、ISO4407、NAS1638、VDA19、STD4189、GB/T20082、GB/T14039等；支持用戶自定義評級標準。支持金屬、非金屬、纖維顆粒識別統(tǒng)計；支持顆粒高度測量。

6、 自動識別反光顆粒、不反光顆粒、纖維 Auto Analysis

系統(tǒng)自動識別顆粒，可以同時檢查出不反光顆粒和反光顆粒（一般為金屬顆粒）、纖維。自動對三種顆粒進行檢查分類。 支持設(shè)置各種顆粒的合格區(qū)間。支持自定義三種顆粒的區(qū)分設(shè)置。支持陰影校正、提高識別精度；

7、 支持跨視野超大顆粒、自動校正偏移

系統(tǒng)自動識別顆粒、自動分析顆粒類別、自動統(tǒng)計顆粒參數(shù)。同時支持修改顆粒。提供多種統(tǒng)計分析工具：MAP圖、顆粒列表、統(tǒng)計結(jié)果、直方圖等；

自動校準掃描系統(tǒng)。

8、 統(tǒng)計與分析 Analysis and Statistics

系統(tǒng)自動識別顆粒、自動分析顆粒類別、自動統(tǒng)計顆粒參數(shù)。同時支持修改顆粒。提供多種統(tǒng)計分析工具：MAP圖、顆粒列表、統(tǒng)計結(jié)果、直方圖等；

9、 可靠安全的數(shù)據(jù)交互功能

所有檢測原始圖片和統(tǒng)計數(shù)據(jù)都會自動存儲，方便出現(xiàn)問題時隨時復(fù)查。所有顆粒數(shù)據(jù)可快速瀏覽、定位、排序。支持管理員進行顆粒數(shù)據(jù)修正功能，解決特殊顆粒及聚集顆粒識別問題。

10、 專業(yè)清潔度報告 Professional Cleanliness Report

支持模板化報告生成模式，包含統(tǒng)計數(shù)據(jù)、評級、濾片全貌圖、顆粒照片等信息；可選擇多種報告模式。

11．用心服務(wù)放心使用

全面的服務(wù)在于您的需要不只是一件產(chǎn)品，而在于您的企業(yè)或科研發(fā)展的同時，有我們對您的要求和需要一呼即應(yīng)。良好長久的合作、使您便是我們成功之處。

Raims 系統(tǒng)自問世以來，深受廣大工廠、企業(yè)、大學及研究所等用戶的信賴和支持；一旦獲取，終生免費升級。