HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱
產(chǎn)品詳情
HAST 高壓加速老化試驗(yàn)箱,也叫高壓蒸煮試驗(yàn)箱,屬于加速可靠性環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備。通過高溫、高濕、高壓復(fù)合環(huán)境,快速激發(fā)樣品潛在缺陷,大幅縮短老化驗(yàn)證周期,替代傳統(tǒng)濕熱老化。設(shè)備腔體采用耐高壓不銹鋼材質(zhì),密閉承壓結(jié)構(gòu),配備智能壓力、溫濕度閉環(huán)控制系統(tǒng),安全泄壓、超溫保護(hù)多重防護(hù),運(yùn)行穩(wěn)定,操作便捷。
HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱
用途
用于加速考核電子元器件、封裝材料耐濕熱耐壓性能,快速暴露樣品封裝孔隙、粘接缺陷、材料分層等可靠性隱患,評(píng)估產(chǎn)品在潮濕環(huán)境下長期使用壽命。
技術(shù)參數(shù)
溫度范圍:105℃~132℃
濕度范圍:85% RH~100% RH
壓力范圍:0.05MPa~0.2MPa
溫度波動(dòng)度:≤±0.5℃
溫度均勻度:≤±1.0℃
內(nèi)箱尺寸:可定制
升溫時(shí)間:常溫升至設(shè)定溫度≤45min
技術(shù)優(yōu)勢
加速老化效率高,試驗(yàn)周期遠(yuǎn)短于常規(guī)濕熱箱
全密閉承壓腔體,溫濕度壓力精準(zhǔn)同步控制
多重安全聯(lián)鎖:超壓、超溫、缺水、泄壓保護(hù)
觸控 PLC 控制系統(tǒng),可存儲(chǔ)多組試驗(yàn)程序
內(nèi)膽耐腐蝕,不易結(jié)垢,維護(hù)簡單
滿足標(biāo)準(zhǔn)
IEC 60068-2-66、JESD22-A110、GB/T 2423.40、MIL-STD-883
應(yīng)用場景
半導(dǎo)體芯片封裝可靠性測試、PCB 板濕熱老化試驗(yàn)、電子連接器、密封膠、塑封材料加速壽命驗(yàn)證,研發(fā)試樣、來料抽檢、成品可靠性鑒定。
適用行業(yè)
半導(dǎo)體行業(yè)、汽車電子、消費(fèi)電子、元器件制造、光電行業(yè)、第三方檢測實(shí)驗(yàn)室、新能源電子零部件行業(yè)











































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