★ 可測奧氏體 220/311、鐵素體 200/211 的衍射峰值強(qiáng)度，符合 ASTM E975-03 國際標(biāo)準(zhǔn)；

★ 多衍射峰測量方式能夠減少晶體優(yōu)化取向帶來的影響；

★ 使用精密的自動(dòng)反饋控制電路獲得的 X 射線發(fā)生器穩(wěn)定性；

★ 自動(dòng)調(diào)整高電壓與電流輸出脈動(dòng)值；

★ 配備大功率、優(yōu)質(zhì)的玻璃（陶瓷）X 射線管；

★ 高聚焦單毛細(xì)管準(zhǔn)直器，高分辨率 CCD 探測器。

精確測量殘余奧氏體的含量，對(duì)于熱處理過程的控制是意義重大的，X 射線衍射法是可以測量殘余奧氏體百分比含量

低至 0.5% 的方法，殘余奧氏體的測量遵循 ASTM E975-03 國際標(biāo)準(zhǔn)。

何為殘余奧氏體

硬化鋼鐵的過程是首先加熱到奧氏體相，然后淬火冷卻到室溫轉(zhuǎn)變?yōu)橛操|(zhì)的馬氏體相。

奧氏體在高溫鋼中呈現(xiàn)面心立方結(jié)構(gòu)（FCC），冷卻時(shí)，鋼體大部分轉(zhuǎn)化為體心立方結(jié)構(gòu)（BCC）的鐵素體，或者轉(zhuǎn)變

為體心正方結(jié)構(gòu)（BCT）的馬氏體。根據(jù)冷卻鋼的速率，會(huì)有一部分鋼仍為奧氏體（通常為 0-40%），因此稱為“殘

余奧氏體”。

奧氏體的結(jié)構(gòu)比鐵素體還有馬氏體的結(jié)構(gòu)都要大，如果在轉(zhuǎn)變過程中有殘余奧氏體存在，隨著時(shí)間的延長，產(chǎn)品中的殘

余奧氏體會(huì)轉(zhuǎn)變?yōu)槠渌囿w，這些變化會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)品的形狀發(fā)生改變。此外，其他的物理性能，如硬度和強(qiáng)度，都會(huì)隨著

不同相體的轉(zhuǎn)變而發(fā)生變化，這些變化最終會(huì)影響到產(chǎn)品的使用壽命。

樣品制備

標(biāo)準(zhǔn)的金相濕研磨和拋光方法

表面拋光： 由碳化硅或氧化鋁砂紙 600 到 80 目

表面研磨： 6 到 0.2μm 的金剛石或氧化鋁瓷

X 射線衍射法測量殘余奧氏體

X 射線衍射法可以準(zhǔn)確測定鋼熱處理后殘余奧氏體的含量，能夠在鋼鐵熱處理過程中控制產(chǎn)品的特性和質(zhì)量。

X 射線衍射法是目前為止測量鋼體中殘余奧氏體含量最準(zhǔn)確的方法。根據(jù) ASTM E975-03 的 X 射線測量鋼中殘余奧氏體近

晶體隨機(jī)取向的標(biāo)準(zhǔn)方法，ARE X 能夠很輕松檢測出鋼體中殘余奧氏體的含量。

由于奧氏體相結(jié)構(gòu)與其他相的結(jié)構(gòu)不同，在不同的測試點(diǎn)，奧氏體會(huì)產(chǎn)生于鐵素體和馬氏體不同的衍射峰值。鋼鐵中相的

總數(shù)和與其衍射峰值的強(qiáng)度成正比。簡單來說，殘余奧氏體總的含量與奧氏體峰值的強(qiáng)度和其他相峰值強(qiáng)度比有關(guān)。通過

利用 X 射線衍射儀采集四個(gè)衍射峰值來確定殘余奧氏體的濃度，兩個(gè)分別是鐵素體和馬氏體，兩個(gè)是奧氏體。通過四個(gè)峰

值強(qiáng)度的對(duì)比可以獲得樣品中殘余奧氏體的百分比含量。

ARE X 衍射儀可以測量奧氏體（220）（311）、鐵素體（200）（211）的衍射峰值強(qiáng)度，并分別提供四個(gè)奧氏體 / 鐵素體

的峰值強(qiáng)度比。通過多衍射峰測量方式能夠減少晶體優(yōu)化取向的帶來的影響，同時(shí)對(duì)檢測到的碳化物干擾加以計(jì)算。