一、半導體可靠性測試高低溫試驗箱作用

適用半導體產(chǎn)品零部件及材料在高溫、低溫(交變)循環(huán)變化的情況下，檢驗其可靠性各項性能指標的檢測設(shè)備。高溫時可測試產(chǎn)品零件、材料可能發(fā)生軟化、效能降低、特性改變、潛在破壞、氧化等現(xiàn)象(如:填充物和密封條軟化或融化、電子電路穩(wěn)定性下降，絕緣損壞、加速高分子材料和絕緣材料老化等)；在低溫時可測試產(chǎn)品零件、材料可能發(fā)生龜裂、脆化、可動部卡死、特性改變等現(xiàn)象(如:材料發(fā)硬變脆、電子元器件性能發(fā)生變化、水冷凝結(jié)冰、材料收縮造成機械結(jié)構(gòu)變化等)。

二、半導體可靠性測試高低溫試驗箱主要參數(shù)

溫度顯示精度：0.1℃

溫度范圍：室溫0℃～150℃/-20℃～150℃/-40℃～150℃/-70℃～150℃/

升溫速度：平均3.0℃/分

降溫速率：平均1℃/分

濕度范圍：30～98% R.H

溫度解析度：±0.1℃

三、高低溫試驗箱結(jié)構(gòu)設(shè)計

1. 內(nèi)外箱材質(zhì)測試區(qū)內(nèi)箱不銹鋼板，外箱不銹鋼板。

2. 外 箱 燈 源 高亮度照明燈

3. 同溫層結(jié)構(gòu)設(shè)計：避免箱體頂部凝結(jié)。

4. 觀 測 視 窗：觀察試品使用 ( W*L 28 * 35 cm )

5. 窗口防汗設(shè)計：采電熱器裝置，防止水氣凝結(jié) ( 40 W )

6. 測 試 孔：可外接測試電源線及信號用 ( 5.0 cm )

7. 機 臺 滑 輪 采滑輪移動調(diào)整擺放位置與強力螺栓固定位置(200Kg / 輪 )

8. 保 溫 層：保溫絕緣層耐燃防火 PU ＋ 隔熱bo璃棉(保溫層厚 10.0 cm)

9. 箱 內(nèi) 盤 架：可活動調(diào)整柵盤架與不銹鋼條狀柵盤二只(盤架每間格 5.0 cm)

10. 箱 門：采雙道隔熱氣密迫緊,隔絕外部溫度泄漏

四、高低溫試驗箱安全注意事項

1、為設(shè)備及試驗的安全，請安裝外部保護接地，并按設(shè)備銘牌要求供給電源；

2、設(shè)備嚴禁用于易燃易爆、有毒、強腐蝕物品的試驗；

3、非專業(yè)人員不得拆卸、維修；

4、設(shè)備應(yīng)有可靠接地；

5、試驗中除非必要請勿打開箱門或進入箱內(nèi)，否則可能引起人身傷害以及設(shè)備誤動作；

6、設(shè)備箱門門鎖僅能從外部打開，進入箱內(nèi)有人監(jiān)護；

7、如果箱內(nèi)放入發(fā)熱試樣，試樣請使用外加電源，不要直接使用設(shè)備本身電源；

8、設(shè)備設(shè)有多種保護措施，請定期檢查；

9、箱體內(nèi)溫度≥55℃時，請勿打開制冷壓縮機，以壓縮機長壽命正常的運行；

10、有制冷功能的產(chǎn)品搬運時傾角不得大于45℃，放置到位后，應(yīng)靜放1～2天再開機，有利于制冷系統(tǒng)能正常工作并延長壽命；

11、切勿重力開啟/閉合產(chǎn)品箱門，否則易導致箱門脫落，造成產(chǎn)品損壞，產(chǎn)生傷害事故；

12、產(chǎn)品長時間停止使用時，應(yīng)定期做驅(qū)除潮氣處理，避免損壞有關(guān)器件；

13、產(chǎn)品在搬運時，應(yīng)小心注意避免損壞面板上的儀表等易損零部件；

14、詳細閱讀本設(shè)備所附文件后，方可操作本設(shè)備；

15、本試驗箱無防爆裝置，不得放入易燃易爆物品干燥

16、在操作當中，除非有必要，請不要打開箱門，否則可能引起人身傷害以及設(shè)備誤動作。 高低溫汽沖出箱外十分危險 箱門內(nèi)側(cè)仍然保持高溫造成燙