熱電賽默飛5014i備件校準(zhǔn)膜詳細(xì)介紹

熱電賽默飛5014i備件校準(zhǔn)膜        

美國熱電賽默飛5014i型環(huán)境空氣質(zhì)量顆粒物連續(xù)監(jiān)測(cè)儀是利用β射線衰減法同時(shí)連續(xù)測(cè)定懸浮和微小顆粒物（例如，TSP、PM10、PM2.5 和 PM1）的質(zhì)量濃度。此外，在顆粒物質(zhì)量濃度計(jì)算過程中，扣除了天然氡氣（Rn-222）的放射影響，這樣可以在環(huán)境顆粒物濃度較低的情況下提供更好的靈敏度。與將碳 -14（C-14）作為 β 放射源的其它 β 衰減監(jiān)測(cè)儀對(duì)比，5014i 樣品收集區(qū)位于 C-14 源與比例計(jì)數(shù)器之間當(dāng)大氣顆粒物沉積到濾帶采樣點(diǎn)的同時(shí)，可通過 C-14 放射源發(fā)射的 β 射線的衰減來測(cè)定顆粒物在濾帶上的動(dòng)態(tài)沉積。通過這種配置，提供連續(xù)性的環(huán)境顆粒物實(shí)時(shí)測(cè)量。無需將取樣點(diǎn)從樣品位置移動(dòng)到單獨(dú)的檢測(cè)器位置以進(jìn)行零值測(cè)定和質(zhì)量測(cè)定（原步進(jìn)式 β 衰減監(jiān)測(cè)儀法）。因此，通過使用這種連續(xù)環(huán)境顆粒物監(jiān)測(cè)方法消除了步進(jìn)式濾帶傳輸?shù)牟淮_定性。5014i 的另一個(gè)***設(shè)計(jì)是針對(duì)那些已知的影響 β 射線衰減法的背景干擾。實(shí)際使用時(shí)，天然惰性氣體氡（Rn-222）的子體核素附著到大氣顆粒物上，然后在質(zhì)量測(cè)量期間將其收集在樣品濾帶上。一些放射性子體核素也是 β 射線的發(fā)射源，會(huì)干擾顆粒物質(zhì)的正確測(cè)量。在以下情況下，干擾影響通常zu i大： 濾帶更換后的*** 90 分鐘，直至濾帶上達(dá)到放射平衡.氡氣含量迅速變化期間. C-14 源活性非常低的時(shí)候5014i 采用了一種修正技術(shù)，也就是在顆粒物的總 β 計(jì)數(shù)中，扣除天然放射源引起的那部分計(jì)數(shù)。這不但可以消除干擾，也讓使用低活度的 C-14 放射源成為了可能。在 5014i 中采用比例計(jì)數(shù)器，使得氡氣的潛在干擾計(jì)數(shù)可以被測(cè)到，這是因?yàn)檫@種計(jì)數(shù)器可以同時(shí)探測(cè)到 α 射線和 β 射線。比例計(jì)數(shù)器中充滿了惰性氣體，如果使用 <100 μCi 活度的 C-14 放射源，比例計(jì)數(shù)器的壽命在 10 年以上。任何檢測(cè)器性能的衰減，可通過運(yùn)行期間持續(xù)的平臺(tái)校核程序識(shí)別到，而不會(huì)影響顆粒物濃度的準(zhǔn)確測(cè)量。樣品流量通過一個(gè)比例電磁閥進(jìn)行控制。此閥門的開度隨***小孔上測(cè)得的流量而變化。***顆粒物測(cè)量總成組件由以下主要部分組成：1.**監(jiān)控單元（5014i 型環(huán)境顆粒物連續(xù)監(jiān)測(cè)儀）2. 環(huán)境切割器取樣系統(tǒng)（TSP、PM10、PM2.5） 3. 動(dòng)態(tài)加熱器4.隔膜真空泵5.外部環(huán)境 T/RH 傳感器組件6.內(nèi)部數(shù)據(jù)記錄單元和外部通信端口7. 選配 6-Ft. 絕緣延伸管8. 選配三腳支架5014i 結(jié)合了成熟的技術(shù)，易于使用的菜單驅(qū)動(dòng)軟件和高級(jí)診斷功能，可以提供***的靈活性和可靠性。5014i 具有以下特點(diǎn)：1.320 x 240 像素圖形顯示2. 菜單驅(qū)動(dòng)軟件3.現(xiàn)場(chǎng)可編程量程4. 多個(gè)用戶定義模擬輸出5. 模擬輸入選項(xiàng)6.所有量程均線性用戶可選數(shù)字輸入 / 輸出能力7. 標(biāo)準(zhǔn)通信功能包括 RS-232/485 和以太網(wǎng)